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1. (WO2010013509) STRUCTURE EN NID D'ABEILLES EN CÉRAMIQUE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/013509    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/055330
Date de publication : 04.02.2010 Date de dépôt international : 18.03.2009
CIB :
B01D 39/20 (2006.01), C04B 38/00 (2006.01), F01N 3/02 (2006.01)
Déposants : HITACHI METALS, LTD. [JP/JP]; 2-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku Tokyo, 1058614 (JP) (Tous Sauf US).
OKAZAKI, Shunji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
ISHIZAWA, Toshitaka [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : OKAZAKI, Shunji; (JP).
ISHIZAWA, Toshitaka; (JP)
Mandataire : TAKAISHI, Kitsuma; Kagurazaka FN Bldg. 5F, 67, Kagurazaka 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1620825 (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-193671 28.07.2008 JP
Titre (EN) CERAMIC HONEYCOMB STRUCTURE AND PROCESS FOR PRODUCING THE SAME
(FR) STRUCTURE EN NID D'ABEILLES EN CÉRAMIQUE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(JA) セラミックハニカム構造体及びその製造方法
Abrégé : front page image
(EN)A ceramic honeycomb structure having many channels formed with porous partitions. The ceramic honeycomb structure is characterized in that the porous partitions have a porosity of 45-68% and have pores which have an average pore diameter of 15-35 µm and in which the volume of pores having a pore diameter exceeding 50 µm is 10-25%, excluding 10%, of the total pore volume, the volume of pores having a pore diameter not smaller than 100 µm is 1-8% of the total pore volume, the volume of pores having a pore diameter smaller than 10 µm is 3-10% of the total pore volume, and the pore distribution deviation (σ) is not higher than 0.45 [provided that σ=log(D20)-log(D80); in a curve showing the relationship between pore diameter and cumulative pore volume (cumulative volume of pores ranging from pores with a maximum pore diameter to pores with a specific pore diameter), the D20 indicates the pore diameter (µm) as measured at the pore volume corresponding to 20% of the total pore volume and the D80 likewise indicates the pore diameter (µm) as measured at the pore volume corresponding to 80% of the total pore volume. D80<D20].
(FR)L'invention porte sur une structure en nid d'abeilles en céramique ayant de nombreux canaux comportant des cloisons poreuses. La structure en nid d'abeilles en céramique est caractérisée par le fait que les cloisons poreuses ont une porosité de 45-68 % et ont des pores qui ont un diamètre moyen de pore de 15-35 µm et dans lesquelles le volume de pores ayant un diamètre de pore dépassant 50 µm est de 10-25 %, à l'exclusion de 10 %, du volume total de pores, le volume de pores ayant un diamètre de pore non inférieur à 100 µm est de 1-8 % du volume total de pores, le volume de pores ayant un diamètre de pore inférieur à 10 µm est de 3-10 % du volume total de pores, et la déviation de la distribution des pores (σ) est non supérieure à 0,45 [à la condition que σ = log(D20) - log(D80), dans une courbe montrant la relation entre le diamètre des pores et le volume cumulé des pores (volume cumulé des pores allant de pores ayant un diamètre maximum de pore à des pores ayant un diamètre de pore spécifique), la D20 indique le diamètre des pores (µm) tel que mesuré au volume de pores correspondant à 20 % du volume total des pores et le D80 indique de la même façon le diamètre des pores (µm) tel que mesuré au volume de pores correspondant à 80 % du volume total des pores. D80 < D20].
(JA) 多孔質隔壁によって形成された多数の流路を有するセラミックハニカム構造体であって、前記多孔質隔壁は、気孔率が45~68%、平均細孔径が15~35μm、細孔径50μmを超える細孔容積が全細孔容積の10%を超え25%以下、細孔径100μm以上の細孔容積が全細孔容積の1~8%、細孔径10μm未満の細孔容積が全細孔容積の3~10%、及び細孔分布偏差σが0.45以下[ただし、σ=log(D20)-log(D80)であり、D20は、細孔径と累積細孔容積(最大の細孔径から特定の細孔径までの細孔容積を累積した値)との関係を示す曲線において、全細孔容積の20%に相当する細孔容積での細孔径(μm)を示し、D80は同じく全細孔容積の80%に相当する細孔容積での細孔径(μm)を示す。D80<D20である。]の気孔を有していることを特徴とするセラミックハニカム構造体。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)