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1. (WO2010013385) CIRCUIT DE MESURE DE TEMPS, PROCÉDÉ DE MESURE DE TEMPS, CONVERTISSEUR NUMÉRIQUE DE TEMPS ET DISPOSITIF DE TEST LES UTILISANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/013385    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/002906
Date de publication : 04.02.2010 Date de dépôt international : 24.06.2009
CIB :
G04F 10/00 (2006.01), G01R 13/34 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
YAMAMOTO, Kazuhiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
OKAYASU, Toshiyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : YAMAMOTO, Kazuhiro; (JP).
OKAYASU, Toshiyuki; (JP)
Mandataire : MORISHITA, Sakaki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-199955 01.08.2008 JP
Titre (EN) TIME MEASUREMENT CIRCUIT, TIME MEASUREMENT METHOD, TIME DIGITAL CONVERTER AND TEST DEVICE USING THE SAME
(FR) CIRCUIT DE MESURE DE TEMPS, PROCÉDÉ DE MESURE DE TEMPS, CONVERTISSEUR NUMÉRIQUE DE TEMPS ET DISPOSITIF DE TEST LES UTILISANT
(JA) 時間測定回路、時間測定方法、それらを用いた時間デジタル変換器および試験装置
Abrégé : front page image
(EN)A time measurement circuit (10) measures a time difference between the edge of a first signal (S1) and that of a second signal (S2). A sampling circuit (12) inputs a logical level of the first signal (S1) at the edge timing of the second signal (S2).  When the sampling circuit (12) enters a metastable state, an output signal (S3) makes a transition in a long-time scale.  A transition time measurement circuit (14) measures a transition time (settling time) of the output signal (S3) in the metastable state of the sampling circuit (12).
(FR)L'invention porte sur un circuit de mesure de temps (10) qui mesure une différence de temps entre la crête d'un premier signal (S1) et celle d'un second signal (S2). Un circuit d'échantillonnage (12) place en entrée un niveau logique du premier signal (S1) au temps de crête du second signal (S2). Lorsque le circuit d'échantillonnage (12) entre dans un état métastable, un signal de sortie (S3) marque une transition dans une échelle de longue durée. Le circuit de mesure de temps de transition (14) mesure un temps de transition (temps d'établissement) du signal de sortie (S3) dans l'état métastable du circuit d'échantillonnage (12).
(JA) 時間測定回路10は、第1信号S1と第2信号S2のエッジの時間差を測定する。サンプリング回路12は、第2信号S2のエッジのタイミングで、第1信号S1の論理レベルを取り込む。サンプリング回路12がメタステーブル状態となると、出力信号S3は長い時間スケールで遷移する。遷移時間測定回路14は、サンプリング回路12のメタステーブル状態における出力信号S3の遷移時間(セトリング時間)を測定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)