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1. (WO2010012843) CAPTEUR POLARIMÉTRIQUE POUR LA MESURE DE LA DÉFORMATION SUBIE PAR UNE SURFACE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/012843    N° de la demande internationale :    PCT/EP2009/060057
Date de publication : 04.02.2010 Date de dépôt international : 03.08.2009
CIB :
G01B 11/16 (2006.01), H01Q 1/28 (2006.01), H01Q 3/26 (2006.01)
Déposants : THALES [FR/FR]; 45, rue de Villiers F-92200 Neuilly-sur-Seine (FR) (Tous Sauf US).
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3, rue Michel-Ange F-75016 Paris (FR) (Tous Sauf US).
LESUEUR, Guilllaume [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
MERLET, Thomas [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
QUEGUINER, Morgan [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
GILLES, Hervé [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
GIRARD, Sylvain [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : LESUEUR, Guilllaume; (FR).
MERLET, Thomas; (FR).
QUEGUINER, Morgan; (FR).
GILLES, Hervé; (FR).
GIRARD, Sylvain; (FR)
Mandataire : LUCAS, Laurent; Immeuble VISIUM 22, avenue Aristide Briand F-94117 Arcueil cedex (FR)
Données relatives à la priorité :
0804411 01.08.2008 FR
Titre (EN) POLARMETRIC SENSOR FOR MEASURING THE DEFORMATION UNDERGONE BY A SURFACE
(FR) CAPTEUR POLARIMÉTRIQUE POUR LA MESURE DE LA DÉFORMATION SUBIE PAR UNE SURFACE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to the measurement of the deformations undergone by a large flat surface exposed to environmental conditions liable to degrade any flatness thereof. It consists of a device comprising means for producing a light sheet of thickness E, having a polarization axis the orientation of which varies along the thickness E, extending above the measured surface and occupying a fixed position relative to a reference point. The device further includes light beam sensors placed at various points on the surface, these being configured and arranged so as to intercept the light beam constituting the sheet at known fixed distances above the surface. Each sensor is configured to convert the intercepted light beam into two light beams having orthogonal polarizations, the intensities of said two light beams depending on the orientation of the polarization axis of the intercepted beam relative to a reference. By analyzing the intensities it is possible to determine the orientation of the intercepted beam and therefore the position, for the sensor in question, of the point of interception of the light beam in the sheet. From this is deduced the distance separating, at the point of the sensor, the measured surface from the light sheet and consequently the amplitude of the deformation undergone by the surface at this point.
(FR)La présente invention à la mesure des déformations subies par des surfaces planes, de grandes dimensions exposées, à des conditions environnementales susceptibles d'altérer leur planéité. Elle consiste en un dispositif comportant des moyens pour produire une nappe lumineuse d'épaisseur E, présentant un axe de polarisation dont l'orientation varie suivant l'épaisseur E, s'étendant au-dessus de la surface mesurée et occupant une position fixe par rapport à un plan de référence. Le dispositif comporte en outre des capteurs d'ondes lumineuses disposés en différents endroits de la surface, configurés et agencés de façon à intercepter l'onde lumineuse constituant la nappe à des distances fixes connues au-dessus de la surface. Chaque capteur est configuré pour transformer l'onde lumineuse interceptée en deux ondes lumineuses présentant des polarités orthogonales et dont les intensités sont fonction de l'orientation de l'axe de polarisation de l'onde interceptée par rapport à une référence. L'analyse des intensités permet de déterminer l'orientation de l'onde interceptée et donc la position, pour le capteur considéré, du point d'interception de l'onde lumineuse dans la nappe. On en déduit la distance séparant, à l'endroit du capteur, la surface mesurée et la nappe lumineuse et par suite l'amplitude de la déformation subie par la surface à cet endroit.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)