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1. (WO2010011831) PROCÉDÉ D’ANALYSE D’UN FIL SUPRACONDUCTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/011831    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/051524
Date de publication : 28.01.2010 Date de dépôt international : 23.07.2009
CIB :
G01R 33/12 (2006.01), G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : AMERICAN SUPERCONDUCTOR CORPORATION [US/US]; 64 Jackson Road Devens, MA 01434 (US) (Tous Sauf US).
FOLTS, Douglas, C. [US/US]; (US) (US Seulement).
PODTBURG, Eric, R. [US/US]; (US) (US Seulement).
DIEHL, Robert, C. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : FOLTS, Douglas, C.; (US).
PODTBURG, Eric, R.; (US).
DIEHL, Robert, C.; (US)
Mandataire : COLANDREO, Brian, J.; Holland & Knight LLP 10 St. James Avenue Boston, MA 02116 (US)
Données relatives à la priorité :
12/178,456 23.07.2008 US
Titre (EN) A METHOD FOR ANALYZING SUPERCONDUCTING WIRE
(FR) PROCÉDÉ D’ANALYSE D’UN FIL SUPRACONDUCTEUR
Abrégé : front page image
(EN)The present disclosure relates to a system and method for analyzing a superconducting wire. A method in accordance with at least one embodiment described herein may include performing a voltage/current (VI) test for each of a plurality of portions of superconducting wire. The VI test may include determining a plurality of VI data points for each of the plurality of portions of superconducting wire at a first VI datapoint of about (Ic (critical current), Ec (critical electric field) ) and at a second VI datapoint of about (Ix, Ex). Ex may be at least 10 times Ec and Ix may be approximately equal to the current resulting at that voltage drop. The method may further include analyzing the plurality of VI data points for each portion of superconducting wire to determine if one or more of the portions of superconducting wire are defective.
(FR)La présente invention concerne un système et un procédé d’analyse d’un fil supraconducteur. Un procédé selon au moins un mode de réalisation décrit, peut inclure la réalisation d’un test de tension/courant (VI) pour chaque partie d’une pluralité de parties du fil supraconducteur. Le test VI peut inclure la détermination d’une pluralité de points de données VI pour chaque partie de la pluralité de parties du fil supraconducteur en un premier point de données VI d’environ (Ic (courant critique), Ec (champ électrique critique)) et en un second point de données VI d’environ (Ix, Ex). Ex peut valoir au moins 10 fois Ec et Ix peut être approximativement égal au courant résultant de cette chute de tension. Le procédé peut en outre comprendre l’analyse de la pluralité de points de données VI pour chaque partie du fil supraconducteur afin de déterminer si une ou plusieurs des parties du fil supraconducteur sont défectueuses.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)