WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2010011186) PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UNE STRUCTURE DE MICROLEVIER ET STRUCTURE DE MICROLEVIER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/011186    N° de la demande internationale :    PCT/SG2009/000259
Date de publication : 28.01.2010 Date de dépôt international : 22.07.2009
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    02.03.2010    
CIB :
G01Q 60/38 (2010.01), G01Q 60/24 (2010.01)
Déposants : AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH [SG/SG]; 1 Fusionopolis Way #20-10 Connexis Singapore 138632 (SG) (Tous Sauf US).
LOKE, Yee Chong [SG/SG]; (SG) (US Seulement).
YEONG, Kuan Song [MY/SG]; (SG) (US Seulement).
COX, Erik, Johansson [GB/SG]; (SG) (US Seulement)
Inventeurs : LOKE, Yee Chong; (SG).
YEONG, Kuan Song; (SG).
COX, Erik, Johansson; (SG)
Mandataire : ELLA CHEONG SPRUSON & FERGUSON (SINGAPORE) PTE LTD; P. O. Box 1531 Robinson Road Post Office Singapore 903031 (SG)
Données relatives à la priorité :
61/083,549 25.07.2008 US
Titre (EN) A METHOD OF FABRICATING A CANTILEVER STRUCTURE AND A CANTILEVER STRUCTURE
(FR) PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UNE STRUCTURE DE MICROLEVIER ET STRUCTURE DE MICROLEVIER
Abrégé : front page image
(EN)A method of fabricating a cantilever structure and a cantilever structure is provided. The method comprises the steps of providing a self-aligning marker on a beam of the cantilever structure; and forming a tip of the cantilever structure based on self-aligning a tip material at the self-aligning marker.
(FR)La présente invention concerne un procédé de fabrication d'une structure de microlevier et une structure de microlevier. Le procédé comprend les étapes consistant à définir un repère d'alignement automatique sur une poutre de la structure de microlevier; puis à former une pointe de la structure de microlevier sur la base de l'alignement automatique d'un matériau de pointe au niveau du repère d'alignement automatique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)