WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2010010775) PROCÉDÉ DE DESSIN DE TRICOT, DISPOSITIF DE DESSIN DE TRICOT, ET PROGRAMME DE DESSIN
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/010775    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/061323
Date de publication : 28.01.2010 Date de dépôt international : 22.06.2009
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    21.05.2010    
CIB :
D04B 15/00 (2006.01), D04B 35/00 (2006.01)
Déposants : SHIMA SEIKI MANUFACTURING, LTD. [JP/JP]; 85, Sakata, Wakayama-shi. Wakayama 6410003 (JP) (Tous Sauf US).
ENYO Takahiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
MAEOKA Shigeki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : ENYO Takahiro; (JP).
MAEOKA Shigeki; (JP)
Mandataire : SHIOIRI Akira; 4-1-409, Funado-cho, Ashiya-shi, Hyogo 6590093 (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-192362 25.07.2008 JP
Titre (EN) KNIT DESIGN METHOD, KNIT DESIGN DEVICE, AND DESIGN PROGRAM
(FR) PROCÉDÉ DE DESSIN DE TRICOT, DISPOSITIF DE DESSIN DE TRICOT, ET PROGRAMME DE DESSIN
(JA) ニットデザイン方法とニットデザイン装置及びデザインプログラム
Abrégé : front page image
(EN)The tilt of the external form of a fabric specified by design data is calculated for each block, and a plurality of line segments are generated for each block to regularly reduce the stitches by a predetermined number at intervals of a predetermined number of courses.  The length of each line segment is determined such that the total number of courses of the line segment is equal to the number of courses determined by the external form, and that the total number of stitches to be reduced is equal to the number of stitches to be reduced which is determined by the external form.  For each block, the corresponding line segment is disposed, and the adjacent line segments are connected to each other to generate a reduction line.  The reduction line that relatively fits the contour of the external form, can be formed efficiently, and can offer an orderly fashion line is generated.
(FR)Le basculement de la forme extérieure d’un tissu spécifié par des données de dessin est calculé pour chaque bloc, et une pluralité de segments de ligne sont générés pour chaque bloc pour réduire régulièrement les mailles d’un nombre prédéterminé par intervalles d’un nombre prédéterminé de rangées. La longueur de chaque segment de ligne est déterminée de telle sorte que le nombre total de rangées du segment de ligne soit égal au nombre de rangées déterminé par la forme extérieure, et que le nombre total de mailles à réduire soit égal au nombre de mailles à réduire déterminé par la forme extérieure. Pour chaque bloc, le segment de ligne correspondant est disposé, et les segments de ligne adjacents sont reliés les uns aux autres pour générer une ligne de réduction. La ligne de réduction s’adaptant relativement au contour de la forme extérieure peut être formée de manière efficace, et peut offrir une ligne de mode ordonnée.
(JA) デザインデータで指定された編地の外形の傾きを複数の区間毎に求め、所定のコース数毎に編目を所定個ずつ規則的に減らす複数の線分を各区間に対応させて発生させる。線分の合計のコース数が外形から定まるコース数と一致し、かつ合計の減らしの目数が外形から定まる減らしの目数と一致するように、各線分の長さを決定する。各区間に対して対応する線分を配置し、隣接した線分を互いに接続することにより、減らしラインを生成する。外形ラインに比較的忠実で、効率的に編成でき、かつ規則的なファッションラインが得られる減らしラインを生成できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)