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1. (WO2010010527) CAPTEURS INTERFÉROMÉTRIQUES À SENSIBILITÉ AMÉLIORÉE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/010527    N° de la demande internationale :    PCT/IB2009/053200
Date de publication : 28.01.2010 Date de dépôt international : 23.07.2009
CIB :
G01D 5/353 (2006.01)
Déposants : RAMOT AT TEL AVIV UNIVERSITY LTD. [IL/IL]; P.O. Box 39296 61392 Tel Aviv (IL) (Tous Sauf US).
LEVY, Ronen [IL/IL]; (IL) (US Seulement).
RUSCHIN, Shlomo [IL/IL]; (IL) (US Seulement)
Inventeurs : LEVY, Ronen; (IL).
RUSCHIN, Shlomo; (IL)
Mandataire : DR. MARK FRIEDMAN LTD.; Moshe Aviv Tower, 54th Floor 7 Jabotinsky St. 52520 Ramat Gan (IL)
Données relatives à la priorité :
61/083,197 24.07.2008 US
Titre (EN) ENHANCED SENSITIVITY INTERFEROMETRIC SENSORS
(FR) CAPTEURS INTERFÉROMÉTRIQUES À SENSIBILITÉ AMÉLIORÉE
Abrégé : front page image
(EN)A sensor (10) and corresponding method for sensing variations in a parameter employ an optical device (12) defining two optical paths (14, 16) differentially affected by a variation in the parameter so as to change the differential phase between the two paths. This differential phase is monitored by a spectral interrogation arrangement (18) including a radiation input device (20) for delivering to the optical device (12) incident radiation at a plurality of wavelengths, and a reading arrangement (22) for measuring the interference- modulated optical output. The optical device (12) is configured so that the two optical paths have differing dispersion properties such that a difference between the phase accumulated by light propagating along the optical paths as a function of wavelength exhibits a maximum or minimum at some wavelength designated λcritical. The plurality of wavelengths employed by the spectral interrogation arrangement span a range of wavelengths including, or adjacent to, λcritical.
(FR)La présente invention concerne un capteur (10) et un procédé correspondant permettant de détecter des variations d’un paramètre, qui utilisent un dispositif optique (12) définissant deux chemins optiques (14, 16) affectés de façon différentielle par une variation du paramètre de façon à changer la phase différentielle entre les deux chemins. Cette phase différentielle est surveillée par un agencement d’interrogation spectrale (18) comprenant un dispositif d’entrée de rayonnement (20) permettant de fournir au dispositif optique (12) un rayonnement incident à une pluralité de longueurs d’onde, et un agencement de lecture (22) permettant de mesurer la sortie optique à modulation d’interférence. Le dispositif optique (12) est conçu de sorte que les deux chemins optiques présentent des propriétés de dispersion différentes de sorte qu’une différence entre la phase accumulée par la lumière se propageant le long des chemins optiques en tant que fonction de longueur d'onde montre un maximum ou un minimum à une certaine longueur d’onde appelée λcritique. La pluralité de longueurs d’onde employées par l’agencement d’interrogation spectrale couvre une plage de longueurs d’onde comprenant λcritique ou y étant adjacente.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)