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1. (WO2010010121) PROCÉDÉ PERMETTANT DE RÉDUIRE L’INTERFÉRENCE ET LA DIAPHONIE DANS DES PINCES OPTIQUES DOUBLES AU MOYEN D’UNE SOURCE LASER UNIQUE, ET APPAREIL UTILISANT CELUI-CI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/010121    N° de la demande internationale :    PCT/EP2009/059428
Date de publication : 28.01.2010 Date de dépôt international : 22.07.2009
CIB :
G21K 1/00 (2006.01)
Déposants : CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) [FR/FR]; 3, rue Michel Ange F-75016 Paris (FR) (Tous Sauf US).
BOCKELMANN, Ulrich [DE/FR]; (FR) (US Seulement).
MANGEOL, Pierre [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : BOCKELMANN, Ulrich; (FR).
MANGEOL, Pierre; (FR)
Mandataire : TEXIER, Christian; (FR)
Données relatives à la priorité :
61/135.620 22.07.2008 US
Titre (EN) METHOD FOR REDUCING INTERFERENCE AND CROSSTALK IN DOUBLE OPTICAL TWEEZERS USING A SINGLE LASER SOURCE, AND APPARATUS USING THE SAME
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT DE RÉDUIRE L’INTERFÉRENCE ET LA DIAPHONIE DANS DES PINCES OPTIQUES DOUBLES AU MOYEN D’UNE SOURCE LASER UNIQUE, ET APPAREIL UTILISANT CELUI-CI
Abrégé : front page image
(EN)Experimental studies of single molecule mechanics require high force sensitivity and low drift, which can be achieved with optical tweezers through an optical tweezers apparatus for force measurements. A CW infrared laser beam is split by polarization and focused by a high numerical aperture objective to create two traps. The same laser is used to form both traps and to measure the force by back focal plane interferometry. Although the two beams entering the microscope are designed to exhibit orthogonal polarization, interference and a significant parasitic force signal occur. Comparing the experimental results with a ray optics model, the interference patterns are caused by the rotation of polarization on microscope lens surfaces and slides. Two methods for reducing the crosstalk are directed to polarization rectification by passing through the microscope twice and frequency shifting of one of the split laser beams.
(FR)L'invention concerne des études expérimentales de mécanique à l'échelle de la molécule unique nécessitant une mesure de force avec une sensibilité élevée et une faible dérive, ladite mesure de force pouvant être réalisée au moyen de pinces optiques par l'intermédiaire d'un appareil à pinces optiques de mesure de force. Un faisceau laser infrarouge à onde continue est divisé par polarisation et focalisé par un objectif à grande ouverture numérique afin de créer deux sangles. Le même laser est utilisé pour former les deux sangles et mesurer la force par détection interférométrique du plan focal arrière. Bien que les deux faisceaux entrant dans le microscope soient conçus pour présenter une polarisation orthogonale, on observe la formation d'un signal de force parasite significatif et d'interférences. En comparant les résultats expérimentaux à un modèle d'optique géométrique, les diagrammes d'interférence sont provoqués par la rotation de polarisation sur les surfaces des lentilles du microscope et les lames de préparation microscopique. Deux procédés permettant de réduire la diaphonie consistent à rectifier la polarisation en passant deux fois dans le microscope et en effectuant un déplacement de la fréquence d'un des faisceaux laser divisés.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)