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1. (WO2010009338) RASTÉRISATION DE PARCOURS DE BÉZIER SUR PROCESSEUR GRAPHIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/009338    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/050886
Date de publication : 21.01.2010 Date de dépôt international : 16.07.2009
CIB :
G06T 5/00 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01)
Déposants : MICROSOFT CORPORATION [US/US]; One Microsoft Way Redmond, WA 98052-6399 (US) (Tous Sauf US)
Inventeurs : MICHAIL, Ashraf; (US)
Données relatives à la priorité :
12/175,454 18.07.2008 US
Titre (EN) GPU BEZIER PATH RASTERIZATION
(FR) RASTÉRISATION DE PARCOURS DE BÉZIER SUR PROCESSEUR GRAPHIQUE
Abrégé : front page image
(EN)Hybrid architecture of supersampling and computing distance from a feature edge or Bezier evaluation to address thin feature support in graphics systems. To avoid missing some features the technique creates a supersampling of a small number of supersamples to pick up the thin features. By supersampling, samples can be produced on both sides of a thin feature, which causes thin features to be detectable by some pixel. Now that the thin features hit some pixel, the quality is achieved by a distance-from-edge approach. For example, the technique can supersample four times in combination with the distance-from-edge approach, produce another four samples there resulting in a 16-sample result.
(FR)L'invention concerne une architecture hybride faisant intervenir un suréchantillonnage et le calcul d’une distance par rapport à un bord de détail ou une évaluation de Bézier pour traiter la prise en charge des détails minces dans les systèmes graphiques. Pour éviter de manquer certains détails, la technique effectue un suréchantillonnage d’un nombre réduit de super-échantillons afin de déceler les détails minces. Par suréchantillonnage, on parvient à produire des échantillons de part et d’autre d’un détail mince, ce qui rend les détails minces détectables par un pixel quelconque. Une fois les détails minces apparents au niveau d’un pixel quelconque, la qualité souhaitée est atteinte par une approche basée sur la distance à un bord. La technique permet par exemple un suréchantillonnage d’un facteur quatre en combinaison avec l’approche de distance au bord, ce qui quadruple le nombre d’échantillons, donnant ainsi un résultat sur 16 échantillons.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)