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1. (WO2010008067) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'IMAGE DE DONNÉES D'IMAGE POUR L'INSPECTION DE DÉFAUT, APPAREIL ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAUT UTILISANT L'APPAREIL ET LE PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE DONNÉES D'IMAGE, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CORPS DE TYPE PLAQUE UTILISANT L'APPAREIL ET LE PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAUT, ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/008067    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/062960
Date de publication : 21.01.2010 Date de dépôt international : 17.07.2009
CIB :
G01N 21/896 (2006.01)
Déposants : Asahi Glass Company, Limited. [JP/JP]; 12-1, Yurakucho 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008405 (JP) (Tous Sauf US).
KURUMISAWA Makoto [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KURUMISAWA Makoto; (JP)
Mandataire : OGURI Shohei; (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-187450 18.07.2008 JP
Titre (EN) IMAGE DATA PROCESSING APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION, DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD USING THE IMAGE DATA PROCESSING APPARATUS AND METHOD, BOARD-LIKE BODY MANUFACTURING METHOD USING THE DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD, AND RECORDING MEDIUM
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'IMAGE DE DONNÉES D'IMAGE POUR L'INSPECTION DE DÉFAUT, APPAREIL ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAUT UTILISANT L'APPAREIL ET LE PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE DONNÉES D'IMAGE, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CORPS DE TYPE PLAQUE UTILISANT L'APPAREIL ET LE PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAUT, ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
(JA) 欠陥検査のための画像データの処理装置および方法、これらを用いた欠陥検査装置および方法、これらを用いた板状体の製造方法、並びに記録媒体
Abrégé : front page image
(EN)Defect candidates are extracted from among photographed images of a board-like body by using a signal threshold value.  From among the extracted defect candidates, the defect candidates at the same position in the width direction are searched, and intervals between the position of the searched defect candidate in a transfer direction and the position of the adjacent defect candidate in the transfer direction are repeatedly obtained, thus, generation frequency distribution of the intervals is obtained.  When the interval generation frequency of interest is over a frequency threshold value, it is discriminated that the board-like body has periodic defects in the transfer direction.  The frequency threshold value is so set as to substantially increase as the interval of interest becomes shorter.
(FR)Selon l'invention, des candidats de défaut sont extraits parmi les images photographiées d'un corps de type plaque par l'utilisation d'une valeur seuil de signal. Parmi les candidats de défaut extraits, les candidats de défaut à la même position dans la direction transversale sont recherchés, et les intervalles entre la position du candidat de défaut cherché dans une direction de transfert et la position du candidat de défaut adjacent dans la direction de transfert sont obtenus par itération, une génération de distribution de fréquence des intervalles étant ainsi obtenue. Quand la fréquence de génération d'intervalle d'intérêt est au-delà d'une valeur seuil de fréquence, il est discriminé que le corps de type plaque a des défauts périodiques dans la direction de transfert. La valeur seuil de fréquence est réglée de manière à augmenter sensiblement à mesure que l'intervalle d'intérêt se raccourcit.
(JA) 板状体の撮影画像の中から、信号閾値を用いて欠陥候補を抽出する。抽出した複数の欠陥候補の中から、幅方向の位置が同一の欠陥候補を探索し、探索した欠陥候補の搬送方向の位置と隣り合う欠陥候補の搬送方向の位置との間の間隔を求めることを繰り返すことにより、間隔に対する発生頻度分布を求める。注目する間隔の発生頻度が頻度閾値を超えるとき、板状体は、搬送方向に周期的な欠陥を有すると判別する。このとき、頻度閾値は、注目する間隔が短くなるほど概略大きくなるように設定される。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)