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1. (WO2010007652) DISPOSITIF DE DÉPLACEMENT DE TÊTE D'ESSAI ET DISPOSITIF TESTEUR DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/007652    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/062670
Date de publication : 21.01.2010 Date de dépôt international : 14.07.2008
CIB :
G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST Corporation [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo, 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
YANO, Takayuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : YANO, Takayuki; (JP)
Mandataire : TOKOSHIE PATENT FIRM; Hoshino Dai-ichi Bldg., 8-3, Nishishinjuku 8-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TEST HEAD MOVING DEVICE AND ELECTRONIC PART TESTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE DÉPLACEMENT DE TÊTE D'ESSAI ET DISPOSITIF TESTEUR DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE
(JA) テストヘッド移動装置及び電子部品試験装置
Abrégé : front page image
(EN)A test head moving device (10) comprises a lifting arm (15) for lifting a test head (100), a frame (11) for horizontally moving the test head (100), and an interlock mechanism (20) for prohibiting the horizontal movement of the frame (11) depending on the height of the test head (100). The interlock mechanism (20) includes a limit switch (23) for detecting that the test head (100) is located at the lowermost position and a stopper (30) capable of contacting a pressing unit (50) with a floor surface.
(FR)L'invention porte sur un dispositif de déplacement de tête d'essai (10) comprenant un bras de levage (15) pour lever la tête d'essai (100), un cadre (11) pour déplacer horizontalement la tête d'essai (100), et un mécanisme de verrouillage (20) pour empêcher le mouvement horizontal du cadre (11) en fonction de la hauteur de la tête d'essai (100). Le mécanisme de verrouillage (20) comprend un interrupteur de fin de course (23) pour détecter que la tête d'essai (100) est située dans la position la plus basse et un organe d'arrêt (30) capable d'amener une unité de pression (50) à venir en contact avec une surface de sol.
(JA)テストヘッド移動装置(10)は、テストヘッド(100)を昇降させる昇降アーム(15)と、テストヘッド(100)を水平方向に移動させるフレーム(11)と、テストヘッド(100)の高さに基づいて、フレーム(11)の水平移動を禁止するインタロック機構(20)と、を備えており、インタロック機構(20)は、テストヘッド(100)が最下限に位置していることを検出するリミットスイッチ(23)と、床面に押付ユニット(50)を当接させることが可能なストッパ(30)と、有している。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)