WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2010007470) APPAREIL DE DÉTECTION DE DÉFAUT POUR SYSTÈME D'AFFICHAGE ALPHANUMÉRIQUE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/007470    N° de la demande internationale :    PCT/IB2008/052858
Date de publication : 21.01.2010 Date de dépôt international : 16.07.2008
CIB :
G09C 3/00 (2006.01)
Déposants : FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC. [US/US]; 6501 William Cannon Drive West Austin, TX 78735 (US) (Tous Sauf US).
NEUGEBAUER, Kurt [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : NEUGEBAUER, Kurt; (DE)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) FAULT DETECTION APPARATUS FOR ALPHANUMERIC DISPLAY SYSTEM AND METHOD OF DETECTING A FAULT
(FR) APPAREIL DE DÉTECTION DE DÉFAUT POUR SYSTÈME D'AFFICHAGE ALPHANUMÉRIQUE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT
Abrégé : front page image
(EN)A fault detection apparatus (230), for use in the alphanumeric display of e.g. a glycometer, comprises a signal translation stage (232) having an input arranged to receive an input waveform (500) derived from a signal for a capacitive load (210). The signal translation stage (232) is arranged to generate a translated output signal, e.g. a bit having a state of either logic 1,0 or an intermediate state, representative of at least an aspect of the input waveform. The apparatus also comprises a detection stage (234) arranged to receive the translated output signal from the signal translation stage (232) and analyse a first part and a second part of the translated output signal respectively corresponding to a first step function and a second step function, the first and second step functions being opposite in direction of transition. The analysis performed by the detection stage (234) is a comparison of the first and second parts of the translated output signal respectively with an expected first part and an expected second part of the translated output signal.
(FR)L'invention porte sur un appareil de détection de défaut (230), destiné à être utilisé dans l'affichage alphanumérique, par exemple, d'un glycomètre, lequel appareil comprend un étage de translation de signal (232) comportant une entrée configurée de façon à recevoir une forme d'onde d'entrée (500) dérivée d'un signal pour une charge capacitive (210). L'étage de translation de signal (232) est configuré de façon à générer un signal de sortie ayant subi une translation, par exemple, un bit ayant soit un état de 1,0 logique soit un état intermédiaire, représentatif d'au moins un aspect de la forme d'onde d'entrée. L'appareil comprend également un étage de détection (234) configuré de façon à recevoir le signal de sortie ayant subi une translation à partir de l'étage de translation de signal (232) et à analyser une première partie et une seconde partie du signal de sortie ayant subi une translation, correspondant respectivement à une première fonction de pas et à une seconde fonction de pas, les première et seconde fonctions de pas ayant des directions de transition opposées. L'analyse effectuée par l'étage de détection (234) est une comparaison des première et seconde parties du signal de sortie ayant subi une translation, respectivement avec une première partie prévue et une seconde partie prévue du signal de sortie ayant subi une translation.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)