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1. (WO2010007452) MICROSCOPE À LASER DESTINÉ AU BALAYAGE LE LONG D'UNE TRAJECTOIRE TRIDIMENSIONNELLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/007452    N° de la demande internationale :    PCT/HU2009/000057
Date de publication : 21.01.2010 Date de dépôt international : 14.07.2009
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    14.05.2010    
CIB :
G02B 21/00 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01)
Déposants : FEMTONICS KFT. [HU/HU]; Szigony u. 43. H-1083 Budapest (HU) (Tous Sauf US).
VIZI, E. Szilveszter [HU/HU]; (HU) (US Seulement).
KATONA, Gergely [HU/HU]; (HU) (US Seulement).
RÓZSA, J. Balázs [HU/HU]; (HU) (US Seulement)
Inventeurs : VIZI, E. Szilveszter; (HU).
KATONA, Gergely; (HU).
RÓZSA, J. Balázs; (HU)
Mandataire : KACSUK, Zsófia; Üteg u. 11/a H-1139 Budapest (HU)
Données relatives à la priorité :
P0800433 15.07.2008 HU
Titre (EN) LASER SCANNING MICROSCOPE FOR SCANNING ALONG A 3D TRAJECTORY
(FR) MICROSCOPE À LASER DESTINÉ AU BALAYAGE LE LONG D'UNE TRAJECTOIRE TRIDIMENSIONNELLE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a laser scanning microscope (10) having: focusing means (15) having a focal plane (29) and comprising at least one optical element for focusing a laser beam (13); drive means (18) for displacing the at least one optical element of the focusing means (15) for changing the position of the focal plane (29), and deflecting means (14) for deflecting the laser beam (13). The microscope comprises a control system (32) configured to carry out the steps of: providing a periodical drive signal for the drive means (18); obtaining time dependant displacement data of the at least one optical element of the focusing means (15) in response to the periodical drive signal of the drive means (18); providing a response function (z(t)) using the time dependant displacement data, calculating a drive signal for the deflecting means (14) using the response function (z(t)) to move the focal volume (30) of the laser beam (13) along a given 3D trajectory (48) within a sample to be examined. The invention further relates to a method for carrying out such a scanning operation along a 3D trajectory (48). ˙
(FR)L'invention concerne un microscope à balayage laser (10) : des moyens de focalisation (15) possédant un plan focal (29) et comportant au moins un élément optique pour focaliser un faisceau laser (13); des moyens d'entraînement (18) pour déplacer ledit au moins un élément optique des moyens de focalisation (15) pour changer la position du plan focal (29); et des moyens déflecteurs (14) pour dévier le faisceau laser (13). Le microscope comporte un système de commande (32) configuré pour exécuter les étapes consistant à : délivrer un signal d'entraînement périodique aux moyens d'entraînement (18); obtenir des données de déplacement en fonction du temps dudit au moins un élément optique des moyens de focalisation (15) en réponse au signal d'entraînement périodique des moyens d'entraînement (18); donner une fonction de réponse (z(t)) en utilisant les données de déplacement en fonction du temps; calculer un signal d'entraînement pour les moyens déflecteurs (14) en utilisant la fonction de réponse (z(t)) pour déplacer le volume focal (30) du faisceau laser (13) le long d'une trajectoire tridimensionnelle donnée (48) dans un échantillon à examiner. L'invention concerne en outre un procédé permettant d'exécuter cette opération de balayage le long d'une trajectoire tridimensionnelle (48).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)