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1. (WO2010006141) SYSTÈMES D'INSPECTION DE CONGÉ AUTOMATISÉS AVEC RÉTROACTION EN BOUCLE FERMÉE ET PROCÉDÉS D'UTILISATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/006141    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/050067
Date de publication : 14.01.2010 Date de dépôt international : 09.07.2009
CIB :
G01N 21/00 (2006.01)
Déposants : NORDSON CORPORATION [US/US]; 28601 Clemens Road Westlake, OH 44145 (US) (Tous Sauf US).
ETIENNE, Stephane [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
BABIARZ, Alec [US/US]; (US) (US Seulement).
SIT, Owen, Yikon [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : ETIENNE, Stephane; (FR).
BABIARZ, Alec; (US).
SIT, Owen, Yikon; (US)
Mandataire : ROONEY, Kevin, G.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/079,547 10.07.2008 US
Titre (EN) AUTOMATED FILLET INSPECTION SYSTEMS WITH CLOSED LOOP FEEDBACK AND METHODS OF USE
(FR) SYSTÈMES D'INSPECTION DE CONGÉ AUTOMATISÉS AVEC RÉTROACTION EN BOUCLE FERMÉE ET PROCÉDÉS D'UTILISATION
Abrégé : front page image
(EN)Systems and methods for automated inspection of fillet formation along on or more peripheral edges (13a) of a packaged microelectronic device (14) that is attached to a supporting substrate (16), such system (10) including a feedback loop for controlling fillet formation More specifically, the system (10) includes a dispensing system (18) configured for dispensing underfill material (22) onto the supporting substrate (16) The system (19) further includes an automated optical inspection (AOI) system (19) configured for determining a value of a measurable attribute of the fillet (12), such as whether the fillet (12) is properly dimensioned, i e, sized and shaped A feedback loop (66) is included between the dispensing system (18) and automated optical inspection system (19)
(FR)L'invention porte sur des systèmes et des procédés pour une inspection automatisée de fabrication de congés le long d'un ou de plusieurs bords périphériques (13a) d'un dispositif microélectronique en boîtier (14) qui est fixé à un substrat de support (16), un tel système (10) comprenant une boucle de rétroaction pour commander la fabrication d'un congé. Plus précisément, le système (10) comprend un système de distribution (18) configuré pour distribuer un matériau de manque de métal (22) sur le substrat de support (16). Le système (19) comprend en outre un système d'inspection optique automatisé (AOI) (19) configuré pour déterminer une valeur d'un attribut mesurable du congé (12), tel que le point de savoir si le congé (12) est dimensionné correctement, c'est-à-dire, dimensionné et façonné. Une boucle de rétroaction (66) est comprise entre le système de distribution (18) et un système d'inspection optique automatisé (19).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)