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1. (WO2010004455) ETAGE DE CAN DE TYPE PIPELINE À CONDENSATEURS COMMUTÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/004455    N° de la demande internationale :    PCT/IB2009/052492
Date de publication : 14.01.2010 Date de dépôt international : 11.06.2009
CIB :
G11C 27/02 (2006.01), H03M 1/12 (2006.01), H03H 19/00 (2006.01)
Déposants : NXP B.V. [NL/NL]; High Tech Campus 60 NL-5656 AG Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
BUTER, Berry Anthony Johannus [NL/NL]; (GB) (US Seulement).
VAN DE VEL, Hans [BE/NL]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : BUTER, Berry Anthony Johannus; (GB).
VAN DE VEL, Hans; (GB)
Mandataire : WILLIAMSON, Paul, L.; (GB)
Données relatives à la priorité :
08104426.5 16.06.2008 EP
Titre (EN) A SWITCHED-CAPACITOR PIPELINE ADC STAGE
(FR) ETAGE DE CAN DE TYPE PIPELINE À CONDENSATEURS COMMUTÉS
Abrégé : front page image
(EN)A switched capacitor pipeline ADC stage is disclosed, in which a reset switch is included to reset the sampling capacitor during a first part of the sampling period. The reset switch thereby removes history and makes the sampling essentially independent of previous samples taken, thus reducing inter symbol interference (ISI)and distortion resulting therefrom, without significantly affecting the sampling period or power usage of the device.
(FR)La présente invention a trait à un étage de CAN (convertisseur analogique-numérique) de type pipeline à condensateurs commutés, dans lequel un commutateur de réinitialisation est inclus pour réinitialiser le condensateur d’échantillonnage au cours d’une première partie de la période d’échantillonnage. Le commutateur de réinitialisation supprime ainsi l’historique et permet d’obtenir un échantillonnage essentiellement indépendant des précédents échantillons qui ont été pris, ce qui permet de réduire les perturbations entre symboles (ISI) et la distorsion qui en résulte, sans affecter de façon significative la période d’échantillonnage ou l’utilisation d’énergie du dispositif.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)