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1. (WO2010004427) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/004427    N° de la demande internationale :    PCT/IB2009/006533
Date de publication : 14.01.2010 Date de dépôt international : 07.07.2009
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    10.05.2010    
CIB :
A61B 5/055 (2006.01), G01N 24/10 (2006.01), G01R 33/30 (2006.01), G01R 33/38 (2006.01)
Déposants : KYUSHU UNIVERSITY [JP/JP]; 6-10-1 Hakozaki, Higashi-ku, Fukuoka-shi Fukuoka , 812-8581 (JP) (Tous Sauf US).
ICHIKAWA, Kazuhiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
UTSUMI, Hideo [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : ICHIKAWA, Kazuhiro; (JP).
UTSUMI, Hideo; (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-178217 08.07.2008 JP
Titre (EN) MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE
Abrégé : front page image
(EN)A measurement device and measurement method make it possible to eliminate the load generated by stopping on a measurement subject that is moved among multiple magnetic field generating devices. The measurement device includes a first external magnetic field generating device that generates a magnetic field of a set size, a second external magnetic field generating device that generates a magnetic field of a size that differs from that of the magnetic field of the first external magnetic field generating device, a rotating table that causes the subject of measurement to pass in sequence through the magnetic fields of the first and second external magnetic field generating devices by causing the subject of measurement to move rotationally, and an OMRI measurement processing part and MRI measurement processing part that measures images such as functional images or structural images of the subject of measurement while it is being moved rotationally by the rotating table.
(FR)Un dispositif et un procédé de mesure permettent d’éliminer la charge générée par l’arrêt sur un objet mesuré qui est déplacé parmi divers générateurs de champ magnétique. Le dispositif de mesure comprend un premier générateur de champ magnétique externe qui génère un champ d’une taille donnée, un second générateur de champ magnétique externe qui génère un champ magnétique d’une taille différente de celui généré par le premier générateur, une table tournante qui amène l’objet mesuré à passer successivement à travers les champs magnétiques des premiers et second générateurs en étant tourné, et une partie de traitement de mesure IRMO et une partie de traitement de mesure IRM qui mesurent les images telles que des images fonctionnelles ou structurelles de l’objet mesuré tandis que la table tournante fait tourner ce dernier.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)