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1. (WO2010004248) PISTE D’ÉCHELLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/004248    N° de la demande internationale :    PCT/GB2009/001468
Date de publication : 14.01.2010 Date de dépôt international : 11.06.2009
CIB :
G01D 5/347 (2006.01), G01B 3/00 (2006.01), B41F 27/00 (2006.01)
Déposants : RENISHAW PLC [GB/GB]; New Mills Wotton-Under-Edge Gloucestershire GL12 8JR (GB) (Tous Sauf US).
ELLIN, Alexander, David, Scott [GB/GB]; (GB) (US Seulement).
HEAWOOD, Wesley, Andrew [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : ELLIN, Alexander, David, Scott; (GB).
HEAWOOD, Wesley, Andrew; (GB)
Mandataire : ROLFE, Edward, William; RENISHAW PLC Patent Department New Mills Wotton-under-Edge Gloucestershire GL12 8JR (GB)
Données relatives à la priorité :
0811076.9 17.06.2008 GB
0816225.7 05.09.2008 GB
Titre (EN) SCALE TRACK
(FR) PISTE D’ÉCHELLE
Abrégé : front page image
(EN)A metrological scale track comprising at least first and second metrological scale track strips. The at least first and second metrological scale track strips are held in a spaced apart relationship by at least one spacer. The at least one spacer is configured to be removed once the at least first and second metrological scale track strips have been secured to a substrate.
(FR)La présente invention concerne une piste d’échelle métrologique comprenant au moins des première et seconde bandes de piste d’échelle métrologique. Ladite ou lesdites bandes sont maintenues dans une relation espacée par au moins un espaceur. Le ou les espaceurs sont conçus pour être enlevés une fois que ladite ou lesdites bandes ont été fixées à un substrat.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)