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1. WO2010004166 - PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUTS D'UN ASSEMBLAGE ÉLECTRONIQUE

Numéro de publication WO/2010/004166
Date de publication 14.01.2010
N° de la demande internationale PCT/FR2009/051203
Date du dépôt international 24.06.2009
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 22.04.2010
CIB
G01R 31/265 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
265Test sans contact
G01R 31/308 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
302Test sans contact
308utilisant des rayonnements électromagnétiques non ionisants, p.ex. des rayonnements optiques
CPC
G01R 31/2656
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26Testing of individual semiconductor devices
265Contactless testing
2656using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
G01R 31/308
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
302Contactless testing
308using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
Déposants
  • CENTRE NATIONAL D'ETUDES SPATIALES (C.N.E.S.) [FR]/[FR] (AllExceptUS)
  • PERDU, Philippe [FR]/[FR] (UsOnly)
Inventeurs
  • PERDU, Philippe
Mandataires
  • CABINET BARRE LAFORGUE & ASSOCIÉS
Données relatives à la priorité
08.0356625.06.2008FR
Langue de publication Français (fr)
Langue de dépôt français (FR)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECTS OF AN ELECTRONIC ASSEMBLY
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUTS D'UN ASSEMBLAGE ÉLECTRONIQUE
Abrégé
(EN) The invention relates to a method and a device for detecting defects in an electronic assembly (39). At least part of the electrical circuit of this electronic assembly (39) is fed with predetermined electrical-stimulation signals, and a face (38) of the electronic assembly (39) is irradiated from at least one source (46) of noncoherent light comprising at least one LED with an optical power density of between 1 μW/μm and 200 mW/μm forming a heated, by irradiation, zone (50) of the electronic assembly, the mean transverse dimension of which lies between 10 μm and 400 μm, and the electrical properties of this electronic assembly (39) are measured and/or evaluated so as to be able to detect modifications of these electrical properties induced by this irradiation.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif de détection de défauts dans un assemblage électronique (39). On alimente au moins une partie du circuit électrique de cet assemblage électronique (39) par des signaux de stimulation électrique prédéterminés, et on irradie une face (38) de l'assemblage électronique (39) à partir d'au moins une source (46) de lumière non cohérente comprenant au moins une LED avec une densité de puissance optique comprise entre 1 μW/μm et 200 mW/μm formant une zone (50) chauffée, par irradiation, de l'assemblage électronique, dont la dimension transversale moyenne est comprise entre 10 μm et 400 μm, et on mesure et/ou on évalue les propriétés électriques de cet assemblage électronique (39) de façon à pouvoir détecter des modifications de ces propriétés électriques induites par cette irradiation.
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