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1. (WO2010002426) CONTRÔLE DE LA POSITION RELATIVE D’UN INSTRUMENT DE PRÉLÈVEMENT D’ÉCHANTILLONS ET D’UNE SURFACE À ANALYSER PENDANT UNE PROCÉDURE DE PRÉLÈVEMENT PAR ANALYSE D’IMAGES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/002426    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/003346
Date de publication : 07.01.2010 Date de dépôt international : 02.06.2009
CIB :
H01J 49/04 (2006.01)
Déposants : UT-BATTELLE, LLC [US/US]; 111-B Union Valley Rd. P.O. Box 2008 Oak Ridge, TN 37831-6498 (US) (Tous Sauf US)
Inventeurs : VAN BERKEL, Gary, J.; (US).
KERTESKZ, Vilmos; (US)
Mandataire : MCKEE, Michael, E.; Attorney at Law 804 Swaps Lane Knoxville, Tennessee 37923 (US)
Données relatives à la priorité :
12/217,224 02.07.2008 US
Titre (EN) CONTROL OF THE POSITIONAL RELATIONSHIP BETWEEN A SAMPLE COLLECTION INSTRUMENT AND A SURFACE TO BE ANALYZED DURING A SAMPLING PROCEDURE WITH IMAGE ANALYSIS
(FR) CONTRÔLE DE LA POSITION RELATIVE D’UN INSTRUMENT DE PRÉLÈVEMENT D’ÉCHANTILLONS ET D’UNE SURFACE À ANALYSER PENDANT UNE PROCÉDURE DE PRÉLÈVEMENT PAR ANALYSE D’IMAGES
Abrégé : front page image
(EN)A system (20) and method utilizes an image analysis approach for controlling the collection instrument-to-surface distance in a sampling system for use, for example, with mass spectrometric detection. Such an approach involves the capturing of an image of the collection instrument (23) or the shadow thereof cast across the surface (22) and the utilization of line average brightness (LAB) techniques to determine the actual distance between the collection instrument and the surface. The actual distance is subsequently compared to a target distance for re-optimization, as necessary, of the collection instrument-to-surface during an automated surface sampling operation.
(FR)L’invention concerne un système (20) et un procédé faisant appel à une approche par analyse d’images pour contrôler la distance d’un instrument de prélèvement à une surface dans un système de prélèvement destiné à être utilisé, par exemple, avec une détection par spectrométrie de masse. Une telle approche fait intervenir la capture d’une image de l’instrument (23) de prélèvement ou de l’ombre de celui-ci portée sur la surface (22) et l’utilisation de techniques de luminosité moyenne par lignes (line average brightness (LAB) pour déterminer la distance effective entre l’instrument de prélèvement et la surface. La distance effective est ensuite comparée à une distance visée en vue de ré-optimiser, en tant que de besoin, la distance de l’instrument de prélèvement à la surface pendant une opération automatisée de prélèvement en surface.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)