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1. (WO2010002056) DISPOSITIF POUR DÉTECTER LA FINESSE D'UN MATÉRIAU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/002056    N° de la demande internationale :    PCT/KR2008/004275
Date de publication : 07.01.2010 Date de dépôt international : 22.07.2008
CIB :
G01N 27/00 (2006.01)
Déposants : CANTIS [KR/KR]; 13F, 906-10 Iui-dong, Yeongtong-gu Suwon Si Gyeonggi-do 443-270 (KR) (Tous Sauf US).
JO, Won-woo [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KIM, Sang-Kyung [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
HWANG, Kyo-Seon [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KIM, Tae-Song [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : JO, Won-woo; (KR).
KIM, Sang-Kyung; (KR).
HWANG, Kyo-Seon; (KR).
KIM, Tae-Song; (KR)
Mandataire : NOH, Jun Tae; 3rd Floor, Seosong Bldg., 1514-1 Seocho-dong, Seocho-gu Seoul 137-871 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2008-0064566 03.07.2008 KR
Titre (EN) DEVICE FOR SENSING MINUTENESS MATTER
(FR) DISPOSITIF POUR DÉTECTER LA FINESSE D'UN MATÉRIAU
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a device for sensing a fine material which is capable of quantitatively detecting an amount of the fine material. For this purpose, the device is constructed to sequentially perform the following operations. For example, a cantilever is bent by the force generated when a fine material detectable in an in-situ mode binds to a surface of the cantilever. Then, in order to generate an opposing force against bending of the cantilever, a voltage is modified with a piezoelectric material provided on the cantilever and the modified voltage is applied to return central axes of the electrode and cantilever to be collinear. Upon recovery of collinearity between the electrode and cantilever, an electrical force applied to the piezoelectric material of the cantilever is measured to sense the force exerted on the cantilever by the fine material, such that an amount of the fine material can be quantitatively detected.
(FR)L'invention porte sur un dispositif pour détecter un matériau fin, qui est capable de détecter de manière quantitative une quantité du matériau fin. Dans ce but, le dispositif est construit pour effectuer de manière séquentielle les opérations suivantes. Par exemple, un porte-à-faux fléchit par la force générée lorsqu'un matériau fin détectable dans un mode in situ se lie à une surface du porte-à-faux. Ensuite, afin de générer une force opposée contre la flexion du porte-à-faux, une tension est modifiée avec un matériau piézoélectrique disposé sur le porte-à-faux, et la tension modifiée est appliquée pour ramener les axes centraux de l'électrode et du porte-à-faux à un état dans lequel ils sont colinéaires. Lors du rétablissement de la colinéarité entre l'électrode et le porte-à-faux, une force électrique appliquée au matériau piézoélectrique du porte-à-faux est mesurée pour détecter la force exercée sur le porte-à-faux par le matériau fin, de telle sorte qu'une quantité du matériau fin peut être détectée de manière quantitative.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : coréen (KO)