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1. (WO2010001605) PROCÉDÉ D’ESTIMATION DE L’ESPÉRANCE DE VIE POUR UN ACCUMULATEUR AU PLOMB-ACIDE ET SYSTÈME D’ALIMENTATION ÉLECTRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/001605    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/003054
Date de publication : 07.01.2010 Date de dépôt international : 01.07.2009
CIB :
G01R 31/36 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
MUROCHI, Harumi; (US Seulement).
YOSHIHARA, Yasuyuki; (US Seulement)
Inventeurs : MUROCHI, Harumi; .
YOSHIHARA, Yasuyuki;
Mandataire : KOTANI, Etsuji; (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-172985 02.07.2008 JP
Titre (EN) LIFE SPAN ESTIMATION METHOD FOR A LEAD ACID BATTERY AND A POWER SUPPLY SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D’ESTIMATION DE L’ESPÉRANCE DE VIE POUR UN ACCUMULATEUR AU PLOMB-ACIDE ET SYSTÈME D’ALIMENTATION ÉLECTRIQUE
(JA) 鉛蓄電池の寿命推定方法および電源システム
Abrégé : front page image
(EN)An estimation unit for estimating the remaining life span of a lead acid battery has a memory step in which a cumulative electrical discharge threshold (A) is stored, where the cumulative electrical discharge threshold (A) is the standard when the life span of the lead acid battery is determined; a calculation step in which a cumulative electrical discharge amount (B) is calculated, where the cumulative electrical discharge amount (B) represents the cumulative value of the electrical discharge amount of the lead acid battery under actual conditions which should produce degradation to the same extent as the degradation produced when the lead acid battery is repeatedly discharged under standard conditions; a subtraction step for obtaining the electrical difference amount (A - B), which is the cumulative electrical discharge amount (B) subtracted from the cumulative electrical discharge threshold (A); and an estimation step in which the electrical difference amount is used to estimate the estimated remaining life span of the lead acid battery.
(FR)Une unité d’estimation pour estimer l’espérance de vie restante d’un accumulateur au plomb-acide comporte une étape de mémoire dans laquelle un seuil de décharge électrique cumulatif (A) est stocké, où le seuil de décharge électrique cumulatif (A) est la norme lorsque l’espérance de vie de l’accumulateur au plomb-acide est déterminée ; une étape de calcul dans laquelle une quantité de décharge électrique cumulative (B) est calculée, où la quantité de décharge électrique cumulative (B) représente la valeur cumulative de la quantité de décharge électrique de l’accumulateur au plomb-acide dans des conditions effectives qui produiraient une dégradation dans la même mesure que la dégradation produite lorsque l’accumulateur au plomb-acide sera déchargé de manière répétée dans des conditions types ; une étape de soustraction pour obtenir la quantité de différence électrique (A - B), qui est la quantité de décharge électrique cumulative (B) soustraite du seuil de décharge électrique cumulative (A) ; et une étape d’estimation dans laquelle la quantité de différence électrique est utilisée pour estimer l’espérance de vie restante estimée de l’accumulateur au plomb-acide.
(JA) 鉛蓄電池の推定残余寿命を推定する推定部が、前記鉛蓄電池の寿命を判断する際に基準とされる積算放電閾値Aを記憶する記憶ステップと、前記鉛蓄電池が標準条件において放電を繰り返したときに生じる劣化と同じ程度に劣化するであろう実際条件における前記鉛蓄電池の放電電気量の積算値である積算放電電気量を表す積算放電電気量Bを算出する算出ステップと、前記積算放電閾値Aから前記積算放電電気量Bを減じて差分電気量A-Bを得る減算ステップと、前記差分電気量を用いて、前記鉛蓄電池の推定残余寿命を推定する推定ステップと、を含む。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)