WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2010001399) MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE, INTERFACE ET PROCÉDÉ D’OBSERVATION D’UN OBJET DANS UN ENVIRONNEMENT NON VIDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/001399    N° de la demande internationale :    PCT/IL2009/000660
Date de publication : 07.01.2010 Date de dépôt international : 02.07.2009
CIB :
G01N 23/00 (2006.01)
Déposants : B-NANO [IL/IL]; Bldg. No. 10 Industrial Park, Maayan Ventures Ltd. P.O.Box: 3010 84965 Omer (IL) (Tous Sauf US).
SHACHAL, Dov [IL/IL]; (IL) (US Seulement).
DE PICCIOTTO, Rafi [IL/IL]; (IL) (US Seulement)
Inventeurs : SHACHAL, Dov; (IL).
DE PICCIOTTO, Rafi; (IL)
Mandataire : PEARL COHEN ZEDEK LATZER; Shenkar 5 PO Box 12704 46733 Herzlia (IL)
Données relatives à la priorité :
61/077,955 03.07.2008 US
61/077,981 03.07.2008 US
61/077,977 03.07.2008 US
61/077,970 03.07.2008 US
Titre (EN) A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AN INTERFACE AND A METHOD FOR OBSERVING AN OBJECT WITHIN A NON-VACUUM ENVIRONMENT
(FR) MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE, INTERFACE ET PROCÉDÉ D’OBSERVATION D’UN OBJET DANS UN ENVIRONNEMENT NON VIDE
Abrégé : front page image
(EN)An interface, a scanning electron microscope and a method for observing an object that is positioned in a non-vacuum environment. The method includes: generating an electron beam in the vacuum environment; scanning a region of the object with the electron beam while the object is located below an object holder; wherein the scanning comprises allowing the electron beam to pass through an aperture of an aperture array, pass through an ultra thin membrane that seals the aperture, and pass through the object holder; wherein the ultra thin membrane withstands a pressure difference between the vacuum environment and the non-vacuum environment; and detecting particles generated in response to an interaction between the electron beam and the object.
(FR)L’invention concerne une interface, un microscope électronique à balayage et un procédé d’observation d’un objet qui est positionné dans un environnement non vide. Le procédé consiste : à générer un faisceau d’électrons dans l’environnement vide; à effectuer un balayage d’une zone de l’objet avec le faisceau d’électrons tandis que l’objet est situé en-dessous d’un support d’objet; le balayage consiste à permettre au faisceau d’électrons de traverser une ouverture d’une matrice d’ouverture, de traverser une membrane ultramince qui ferme l’ouverture, et de traverser le support d’objet; la membrane ultramince résiste à une différence de pression entre l’environnement vide et l’environnement non vide; et à détecter des particules générées en réponse à une interaction entre le faisceau d’électrons et l’objet.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)