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1. (WO2009142390) APPAREIL DE MESURE D'UN PROFIL DE SURFACE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/142390    N° de la demande internationale :    PCT/KR2009/001611
Date de publication : 26.11.2009 Date de dépôt international : 30.03.2009
CIB :
G01B 11/24 (2006.01)
Déposants : PEMTRON CO., LTD. [KR/KR]; B-1509, Woolim Lions1-cha, 371-28 Gasan-dong, Geumcheon-gu Seoul 153-786 (KR) (Tous Sauf US).
YOO, Young-Woong [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
CHOI, Young-Jin [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
CHO, Cheol-Hoon [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : YOO, Young-Woong; (KR).
CHOI, Young-Jin; (KR).
CHO, Cheol-Hoon; (KR)
Mandataire : NAMCHON INTERNATIONAL PATENT AND LAW FIRM; #406, Doryeom Bldg, 60, Doryeom-dong Jongno-gu Seoul 110-051 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2008-0046004 19.05.2008 KR
Titre (EN) APPARATUS FOR MEASUREMENT OF A SURFACE PROFILE
(FR) APPAREIL DE MESURE D'UN PROFIL DE SURFACE
(KO) 표면형상 측정장치
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to an apparatus for measurement of a surface profile which senses the 2-D image of the surface of the object to be measured. The present invention comprises a first light source that shines a first monochromatic light onto the surface of said object to be measured, a second light source that shines a second monochromatic light, of a different monochromatic colour to said first light source, onto the surface of the object to be measured, and a monochrome camera that senses said first monochromatic light and said second monochromatic light reflected from the surface of said object to be measured, which has been illuminated by said first and second light sources. It also comprises a control unit that controls said first light source, said second light source and said monochrome camera to obtain first and second monochrome image data respectively in response to said first monochromatic light and said second monochromatic light sources are shone respectively onto the surface of said object to be measured and generates a composite colour image of the surface of said object to be measured using said first and second monochrome image data. Accordingly, it becomes possible to obtain 2-D colour images using low-cost monochrome cameras and to improve processing speeds by using monochrome cameras, which have greater processing speeds than colour cameras.
(FR)L'invention concerne un appareil de mesure d'un profil de surface qui détecte l'image bidimensionnelle de la surface de l'objet à mesurer. Cette invention comprend une première source de lumière qui émet une première lumière monochromatique sur la surface de cet objet à mesurer, une seconde source de lumière qui émet une seconde lumière monochromatique, de couleur monochromatique vers la première source de lumière, sur la surface de l'objet à mesurer, et une caméra monochrome qui détecte cette première et cette seconde lumière monochromatique réfléchie par la surface de l'objet à mesurer, qui a été éclairée par les première et secondes sources de lumière. Il comprend aussi une unité de commande qui commande la première source de lumière, la seconde source de lumière et la caméra monochrome afin d'obtenir des première et seconde données d'image monochrome respectivement en réponse aux première et seconde sources de lumière monochromatique réfléchies respectivement sur la surface de l'objet à mesurer, et qui produit une image en couleur composée de la surface de l'objet à mesurer au moyen des première et seconde données d'image monochrome. Il est ainsi possible d'obtenir des images bidimensionnelles en couleur au moyen des caméras monochromes à bas prix et d'améliorer les vitesses de traitement par utilisation de caméras monochromes, qui ont des vitesses de traitement supérieures à celles des caméras couleur.
(KO)본 발명은 측정대상물의 표면의 2D 이미지를 촬상하는 표면형상 측정장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 표면형상 측정장치는 제1 단색광을 상기 측정대상물의 표면에 조사하는 제1 광원과; 상기 제1 단색광과 상이한 색상의 제2 단색광을 상기 측정대상물의 표면에 조사하는 제2 광원과; 상기 제1 광원 및 상기 제2 광원으로부터 조사되어 상기 측정대상물의 표면으로부터 반사된 상기 제1 단색광 및 상기 제2 단색광을 촬상하는 흑백 카메라와; 상기 제1 단색광 및 상기 제2 단색광이 상기 측정대상물의 표면에 각각 조사되는 상태에서 상기 제1 단색광 및 상기 제2 단색광에 각각 대응하는 제1 흑백 이미지 데이터 및 제2 흑백 이미지 데이터가 획득되도록 상기 제1 광원, 상기 제2 광원 및 상기 흑백 카메라를 제어하며, 상기 제1 흑백 이미지 데이터 및 상기 제2 흑백 이미지 데이터를 이용하여 상기 측정대상물의 표면에 대한 합성 컬러 이미지를 생성하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 저비용의 흑백 카메라를 이용하여 컬러 2D 이미지를 획득 가능하게 되고, 컬러 카메라보다 처리 속도가 빠른 흑백 카메라를 이용함으로써 처리 속도 또한 향상시킬 수 있다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)