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1. (WO2009141998) PROCÉDÉ D’ÉTALONNAGE, DISPOSITIF D’ÉTALONNAGE ET SYSTÈME D’ÉTALONNAGE COMPRENANT LE DISPOSITIF
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/141998    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/002195
Date de publication : 26.11.2009 Date de dépôt international : 19.05.2009
CIB :
G01C 3/00 (2006.01), G01C 3/06 (2006.01), H04N 5/232 (2006.01), H04N 13/02 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
OYAMA, Ichiro; (US Seulement).
IMAMURA, Norihiro; (US Seulement)
Inventeurs : OYAMA, Ichiro; .
IMAMURA, Norihiro;
Mandataire : NII, Hiromori; (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-131327 19.05.2008 JP
Titre (EN) CALIBRATION METHOD, CALIBRATION DEVICE, AND CALIBRATION SYSTEM HAVING THE DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D’ÉTALONNAGE, DISPOSITIF D’ÉTALONNAGE ET SYSTÈME D’ÉTALONNAGE COMPRENANT LE DISPOSITIF
(JA) キャリブレーション方法、キャリブレーション装置及びその装置を備えるキャリブレーションシステム
Abrégé : front page image
(EN)A high-accuracy calibration method for a range finder which captures an image involving much lens aberration.  The calibration method is used for estimating the camera parameter representing the characteristic of each imaging system which a binocular range finer (3) has.  The method includes an imaging step of imaging a reference chart (30) on which a geometric pattern composed of arranged elements is shown and which is disposed in a predetermined position relationship with a binocular range finder (3), an aberration brightness correcting step of correcting the brightness distribution due to the lens aberration in the captured image of the reference chart (30), a feature point position calculating step of calculating the positions of the centers of gravity of the elements shown in the image the brightness distribution of which is corrected as the feature point positions, and a camera parameter estimation calculating step of estimating a camera parameter by using the calculated feature point positions and the actual substantial centers of gravity of the reference chart (30).
(FR)Procédé d’étalonnage haute précision pour un télémètre qui capture une image à aberration de lentille importante. Le procédé d’étalonnage est utilisé pour estimer le paramètre de caméra représentant la caractéristique de chaque système d’imagerie que comporte un télémètre binoculaire (3). Le procédé comprend une étape d’imagerie consistant à imager un tableau de référence (30) sur lequel un motif géométrique composé d’éléments agencés est affiché et qui est disposé dans une relation de position prédéfinie par rapport à un télémètre binoculaire (3) ; une étape de correction de luminosité d’aberration consistant à corriger la répartition de la luminosité due à l’aberration de lentille dans l’image capturée du tableau de référence (30), une étape de calcul de position de point caractéristique consistant à calculer les positions des centres de gravité des éléments affichés sur l’image, dont la distribution de luminosité est corrigée comme les positions de point caractéristique ; et une étape de calcul d’estimation de paramètre de caméra consistant à estimer un paramètre de caméra à l’aide des positions de point caractéristique calculées et des centres de gravité importants réels du tableau de référence (30).
(JA) 撮影画像にレンズの収差が多く含まれる測距装置における高精度なキャリブレーション方法等を提供する。  複眼測距装置(3)が有する各撮像系の特性を表すカメラパラメータを推定するキャリブレーション方法であって、複数の要素が配列された幾何学模様が表され、かつ、複眼測距装置(3)と所定の位置関係となるように配置された基準チャート(30)を撮影する撮影ステップと、撮影された基準チャート(30)の撮影画像において、レンズの収差に起因する輝度分布を修正する収差輝度修正ステップと、輝度分布が修正された撮影画像において、複数の要素のそれぞれの重心位置を特徴点位置として算出する特徴点位置算出ステップと、特徴点位置算出ステップで算出された特徴点位置と、基準チャート(30)における実際の略重心位置とを用いて、カメラパラメータを推定するカメラパラメータ推定演算ステップとを含む。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)