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1. (WO2009139795) SYSTÈME DE CONDITIONNEMENT DE MULTIPLES ÉCHANTILLONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/139795    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/084538
Date de publication : 19.11.2009 Date de dépôt international : 24.11.2008
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    22.02.2010    
CIB :
G01N 3/04 (2006.01)
Déposants : BOSE CORPORATION [US/US]; The Mountain Framingham, Massachusets 01701 (US) (Tous Sauf US).
OWENS, Aaron M. [US/US]; (US) (US Seulement).
DINGMANN, David L. [US/US]; (US) (US Seulement).
NICKEL, Troy D. [US/US]; (US) (US Seulement).
SEEMAN, Steven R. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : OWENS, Aaron M.; (US).
DINGMANN, David L.; (US).
NICKEL, Troy D.; (US).
SEEMAN, Steven R.; (US)
Mandataire : FUKUDA, Steven K.; Bose Corporation The Mountain, MS 40 IP Legal - Patent Support Unit Framingham, Massachusetts 01701 (US).
HILL, Misha, K.; Bose Corporation The Mountain, MS 40 IP Legal - Patent Support Unit Framingham, Massachusetts 01701 (US)
Données relatives à la priorité :
12/119,830 13.05.2008 US
Titre (EN) MULTI-SAMPLE CONDITIONING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE CONDITIONNEMENT DE MULTIPLES ÉCHANTILLONS
Abrégé : front page image
(EN)A multi-sample conditioning system may include a sample chamber for each sample or a sample chamber holding one or more samples. Multiple samples enable replication for statistical analysis and individual sample chambers enable individual nutrient flow profiles for each sample. A mechanical imbalance may be created when a sample chamber is removed or when samples of different stiffness are conditioned together. The mechanical imbalance may result in an undesired alteration of the desired conditioning profile and increase the variation in the conditioning profile applied to each sample. An asymmetric-loading support assembly provides a low friction support to reduce the undesired alteration of the desired conditioning profile applied to the samples and reduce unwanted reaction loads on the conditioning drive mechanisms. The asymmetric-loading support assembly preferably includes a flexure as the low-friction, high-stiffness support. Other examples that can provide low-friction, high-stiffness support include air bearings, magnetic bearings, and hydraulic bearings.
(FR)L’invention concerne un système de conditionnement de multiples échantillons comprenant une chambre à échantillon pour chaque échantillon ou une chambre à échantillon contenant un ou plusieurs échantillons. Plusieurs échantillons permettent une reproduction pour réaliser une analyse statistique et des chambres à échantillon individuelles permettent l’obtention de profils individuels de flux de nutriment pour chaque échantillon. Un déséquilibre mécanique peut être créé quand une chambre à échantillon est retirée ou quand des échantillons de différentes duretés sont conditionnés ensemble. Le déséquilibre mécanique peut aboutir à une modification non souhaitée du profil de conditionnement souhaité et accroître la variation du profil de conditionnement appliqué à chaque échantillon. Un ensemble support de chargement asymétrique fournit un support à faible frottement pour réduire les modifications non souhaitées du profil de conditionnement souhaité appliqué aux échantillons et réduire une réaction indésirable pesant sur les mécanismes dirigeant le conditionnement. L’ensemble support de chargement asymétrique comprend de préférence un joint flexible en tant que support à faible frottement et à dureté élevée. Les paliers à air, les paliers magnétiques et les paliers hydrauliques sont d’autres exemples pouvant fournir un support à faible frottement et à dureté élevée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)