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1. (WO2009139399) APPAREIL D'IRRADIATION DE FAISCEAU D'ÉLECTRONS AVEC DISPOSITIF DE CONTRÔLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/139399    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/058877
Date de publication : 19.11.2009 Date de dépôt international : 01.05.2009
CIB :
G21K 5/04 (2006.01), G21K 5/00 (2006.01)
Déposants : JAPAN AE POWER SYSTEMS CORPORATION [JP/JP]; 8-3, Nishi-Shinbashi 3-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP) (Tous Sauf US).
HIKOSAKA, Tomoyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
EGUCHI, Shiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SUZUKI, Takayuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HARADA, Nobuyasu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
GOHZAKI, Satoru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SATO, Shigekatsu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HASHIMOTO, Isao [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : HIKOSAKA, Tomoyuki; (JP).
EGUCHI, Shiro; (JP).
SUZUKI, Takayuki; (JP).
HARADA, Nobuyasu; (JP).
GOHZAKI, Satoru; (JP).
SATO, Shigekatsu; (JP).
HASHIMOTO, Isao; (JP)
Mandataire : TAKADA, Yukihiko; (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-124495 12.05.2008 JP
Titre (EN) ELECTRON BEAM IRRADIATING APPARATUS WITH MONITOR DEVICE
(FR) APPAREIL D'IRRADIATION DE FAISCEAU D'ÉLECTRONS AVEC DISPOSITIF DE CONTRÔLE
(JA) 監視装置付き電子線照射装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is an electron beam irradiating apparatus with a monitor device that can not only determine whether the electron beam irradiation is normal or abnormal but also specifically determine the causes of abnormalities if any, thereby shortening the time required to perform a check operation and that further can determine, by itself, the causes of a plurality of abnormalities if any.  The electron beam irradiating apparatus with the monitor device has an electron beam irradiating means for irradiating an electron beam to a to-be-irradiated object in an irradiation chamber.  The monitor device comprises an imaging means for imaging a light emitted by irradiating an electron beam to the to-be-irradiated object; a storing means that stores situations of electron beam irradiation in advance; and a calculating means that processes an image, which is captured by the imaging means, to determine a situation of electron beam irradiation.  The storing means has stored at least three situations of electron beam irradiation and also has stored image brightnesses associated with those situations of electron beam irradiation.  The calculating means acquires the image, which is captured by the imaging means, to compare the acquired image with the image brightnesses stored in the storing means, thereby determining a situation of electron beam irradiation.
(FR)L'invention porte sur un appareil d'irradiation de faisceau d'électrons avec un dispositif de contrôle, qui peut non seulement déterminer si l'irradiation de faisceau d'électrons est normale ou anormale, mais qui peut également déterminer de façon précise les causes d'anomalies, le cas échéant, de façon à raccourcir ainsi le temps requis pour effectuer une opération de vérification, et qui peut de plus déterminer par lui-même les causes d'une pluralité d'anomalies, le cas échéant. L'appareil d'irradiation de faisceau d'électrons avec le dispositif de contrôle présente un moyen d'irradiation de faisceau d'électrons pour irradier un faisceau d'électrons vers un objet devant être irradié dans une chambre d'irradiation. Le dispositif de contrôle comprend un moyen d'imagerie pour obtenir l’image d'une lumière émise par irradiation d'un faisceau d'électrons vers l'objet devant être irradié; un moyen de stockage qui stocke des situations d'irradiation de faisceau d'électrons à l'avance,  et un moyen de calcul qui traite une image, qui est capturée par le moyen d'imagerie, de façon à déterminer une situation d'irradiation de faisceau d'électrons. Le moyen de stockage a stocké au moins trois situations d'irradiation de faisceau d'électrons et a également stocké des luminosités d'image associées à ces situations d'irradiation de faisceau d'électrons. Le moyen de calcul acquiert l'image, qui est capturée par le moyen d'imagerie, afin de comparer l'image acquise aux luminosités d'image stockées dans le moyen de stockage, de façon à déterminer ainsi une situation d'irradiation de faisceau d'électrons.
(JA)電子線照射の正常又は異常の判断のみならず、異常の際には異常原因を具体的に特定することで点検作 業にかかる時間を短縮すると共に、1つの装置で複数の異常原因を判定することができる監視装置付き 電子線照射装置を提供する。 電子線を照射処理室内の被照射物に照射する電子線照射手段を有する電子線照射装置の監視装置で あり、監視装置は電子線が被照射物に照射されることにより放出する発光を撮影する撮影手段と、電子線照射状況が予め記憶された記憶手段と、撮影手段により撮影された画像を処理し、電子線照射状況を判定する演算手段とを有する。撮影手段には、少なくとも3つの電子線照射状況が記憶されると共に、電子線照射状況に対応する画像の輝度が記憶され、演算手段は撮影手段により撮影された画像を取り込んで、記憶手段に記憶された画像の輝度と比較し、電子線照射状況を判定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)