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1. (WO2009139050) PROGRAMME DE DÉTECTION DE RUGOSITÉ DE SURFACE DE MATÉRIAU, SUPPORT D'ENREGISTREMENT LISIBLE PAR ORDINATEUR ENREGISTRANT CELUI-CI, ET DÉTECTEUR DE RUGOSITÉ DE SURFACE DE MATÉRIAU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/139050    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/058814
Date de publication : 19.11.2009 Date de dépôt international : 14.05.2008
CIB :
G01B 11/30 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01), G06T 7/40 (2006.01)
Déposants : NIPPON COMPUTER SYSTEM CO., LTD [JP/JP]; 3-7, Shiromi 1-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5406316 (JP) (Tous Sauf US).
YANAGIDA, Syunichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
FUJII, Yoshihisa [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
FUJIWARA, Yuko [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : YANAGIDA, Syunichi; (JP).
FUJII, Yoshihisa; (JP).
FUJIWARA, Yuko; (JP)
Mandataire : WATANABE, Mitsuhiko; OSAKA NIKKO BUILDING, 11-8, Sonezaki 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka, 5300057 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MATERIAL SURFACE ROUGHNESS DETECTION PROGRAM, COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDING THE SAME, AND MATERIAL SURFACE ROUGHNESS DETECTOR
(FR) PROGRAMME DE DÉTECTION DE RUGOSITÉ DE SURFACE DE MATÉRIAU, SUPPORT D'ENREGISTREMENT LISIBLE PAR ORDINATEUR ENREGISTRANT CELUI-CI, ET DÉTECTEUR DE RUGOSITÉ DE SURFACE DE MATÉRIAU
(JA) 物質表面粗さ検出プログラム及びこれが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体、ならびに物質表面粗さ検出装置
Abrégé : front page image
(EN)A material surface roughness detection program (10) calculates brightness difference vectors for each pixel composing a material surface image, calculates each of primary conversion vectors which convert the length of the brightness difference vectors, and calculates primary conversion/difference vectors for each pixel the primary conversion vectors of which are calculated. Subsequently, the program calculates each of secondary conversion vectors which convert the length of the primary conversion/difference vectors, and calculates each of degrees of surface roughness at the pixel-to-pixel distance by determining an average in length of the secondary conversion vectors. Upon calculation of the degree of surface roughness by changing the pixel-to-pixel distance at fixed intervals, the program detects the pixel-to-pixel distance when the degree of surface roughness reaches a saturation position as an index [degree of material surface roughness] indicating the material surface roughness.
(FR)L'invention porte sur un programme de détection de rugosité de surface de matériau (10), qui calcule des vecteurs de différence de luminosité pour chaque pixel composant une image de surface de matériau, qui calcule chacun des vecteurs de conversion primaires qui convertissent la longueur des vecteurs de différence de luminosité, et qui calcule les vecteurs de conversion/différence primaires pour chaque pixel dont les vecteurs de conversion primaires sont calculés. Ensuite, le programme calcule chacun des vecteurs de conversion secondaires qui convertissent la longueur des vecteurs de conversion/différence primaires, et calcule chacun des degrés de la rugosité de surface à la distance pixel-pixel par détermination d'une moyenne de longueur des vecteurs de conversion secondaires. Lors du calcul du degré de rugosité de surface par changement de la distance pixel-pixel à intervalles fixes, le programme détecte la distance pixel-pixel lorsque le degré de rugosité de surface atteint une position de saturation, comme indice [degré de rugosité de surface de matériau] indiquant la rugosité de surface de matériau.
(JA) 物質表面粗さ検出プログラム(10)は、物質表面画像を構成する各画素について明度差異ベクトルをそれぞれ算出し、該明度差異ベクトルの長さを変換した第1次変換ベクトルをそれぞれ算出し、該第1次変換ベクトルを算出した各画素について第1次変換・差異ベクトルをそれぞれ算出し、該第1次変換・差異ベクトルの長さを変換した第2次変換ベクトルをそれぞれ算出し、該第2次変換ベクトルの長さの平均を求めることで当該ピクセル間距離でのザラツキ度をそれぞれ算出し、ピクセル間距離を一定間隔で変化させてザラツキ度を算出した時に、ザラツキ度が飽和位置に達した時のピクセル間距離を、物質の表面粗さを示す指標である[物質表面・粗さ度]として検出するものである。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)