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1. WO2009137727 - UTILISATION D’UNE CELLULE DE BALAYAGE À CONSOMMATION D’ÉNERGIE RÉDUITE

Numéro de publication WO/2009/137727
Date de publication 12.11.2009
N° de la demande internationale PCT/US2009/043214
Date du dépôt international 07.05.2009
CIB
G01R 31/3185 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3185Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage
CPC
G01R 31/318575
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318533using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
318575Power distribution; Power saving
Déposants
  • MENTOR GRAPHICS CORPORATION [US]/[US] (AllExceptUS)
  • LIN, Xijiang (UsOnly)
  • HUANG, Yu (UsOnly)
  • RAJSKI, Janusz (UsOnly)
Inventeurs
  • LIN, Xijiang
  • HUANG, Yu
  • RAJSKI, Janusz
Mandataires
  • EVANS, Thomas, L.
Données relatives à la priorité
61/051,31707.05.2008US
61/051,32107.05.2008US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SCAN CELL USE WITH REDUCED POWER CONSUMPTION
(FR) UTILISATION D’UNE CELLULE DE BALAYAGE À CONSOMMATION D’ÉNERGIE RÉDUITE
Abrégé
(EN)
Selective blocking is applied to discrete segments of scan chains in the integrated circuit device. In some implementations, locking components associated with the scan segments are selectively activated according to blocking data incorporated in test pattern data. In other implementations, selective blocking is applied to the scan cells identified as causing the highest power consumption. Selective incorporation of blocking components in an integrated circuit device is based on statistical estimation of scan cell transition rates. When the blocking components are enabled, pre-selected signal values are presented to the functional logic of the integrated circuit device. At the same time, propagation of output value transitions that may take place in the scan cells is prevented.
(FR)
Un blocage sélectif est appliqué à des segments distincts de chaînes de balayage dans le dispositif de circuit intégré. Dans certaines mises en œuvre, des composants de verrouillage associés aux segments de balayage sont activés de manière sélective conformément à des données de blocage incorporées dans des données de séquence de test. Dans d’autres mises en œuvre, un blocage sélectif est appliqué aux cellules de balayage identifiées comme étant à l’origine de la plus forte consommation d’énergie. Une incorporation sélective de composants de blocage dans un dispositif de circuit intégré est réalisée en se basant sur l’estimation statistique des taux de transition de cellules de balayage. Lorsque les composants de blocage sont activés, des valeurs de signaux présélectionnées sont présentées à la logique fonctionnelle du dispositif de circuit intégré. En même temps, la propagation des transitions de valeur de sortie susceptibles de prendre de la place dans les cellules de balayage est empêchée.
Également publié en tant que
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