(EN) Selective blocking is applied to discrete segments of scan chains in the integrated circuit device. In some implementations, locking components associated with the scan segments are selectively activated according to blocking data incorporated in test pattern data. In other implementations, selective blocking is applied to the scan cells identified as causing the highest power consumption. Selective incorporation of blocking components in an integrated circuit device is based on statistical estimation of scan cell transition rates. When the blocking components are enabled, pre-selected signal values are presented to the functional logic of the integrated circuit device. At the same time, propagation of output value transitions that may take place in the scan cells is prevented.
(FR) Un blocage sélectif est appliqué à des segments distincts de chaînes de balayage dans le dispositif de circuit intégré. Dans certaines mises en œuvre, des composants de verrouillage associés aux segments de balayage sont activés de manière sélective conformément à des données de blocage incorporées dans des données de séquence de test. Dans d’autres mises en œuvre, un blocage sélectif est appliqué aux cellules de balayage identifiées comme étant à l’origine de la plus forte consommation d’énergie. Une incorporation sélective de composants de blocage dans un dispositif de circuit intégré est réalisée en se basant sur l’estimation statistique des taux de transition de cellules de balayage. Lorsque les composants de blocage sont activés, des valeurs de signaux présélectionnées sont présentées à la logique fonctionnelle du dispositif de circuit intégré. En même temps, la propagation des transitions de valeur de sortie susceptibles de prendre de la place dans les cellules de balayage est empêchée.