WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2009135143) ETALONNAGE CENTRALISÉ DE CELLULES LOGIQUES NUMÉRIQUES PROGRAMMABLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/135143    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/042548
Date de publication : 05.11.2009 Date de dépôt international : 01.05.2009
CIB :
G11C 16/34 (2006.01), G11C 16/10 (2006.01), G11C 11/00 (2006.01)
Déposants : TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED [US/US]; P.O. Box 655474, Mail Station 3999 Dallas, TX 75265-5474 (US) (Tous Sauf US).
BATRA, Anuj [US/US]; (US) (US Seulement).
LINGAM, Srinivas [IN/US]; (US) (US Seulement).
LEE, Kit, Wing, S. [CN/US]; (US) (US Seulement).
BITTLESTONE, Clive, D. [US/US]; (US) (US Seulement).
AMERASEKERA, Ekanayake, A. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BATRA, Anuj; (US).
LINGAM, Srinivas; (US).
LEE, Kit, Wing, S.; (US).
BITTLESTONE, Clive, D.; (US).
AMERASEKERA, Ekanayake, A.; (US)
Mandataire : FRANZ, Warren, L.; (US)
Données relatives à la priorité :
12/433,189 30.04.2009 US
61/050,054 02.05.2008 US
Titre (EN) LOCALIZED CALIBRATION OF PROGRAMMABLE DIGITAL LOGIC CELLS
(FR) ETALONNAGE CENTRALISÉ DE CELLULES LOGIQUES NUMÉRIQUES PROGRAMMABLES
Abrégé : front page image
(EN)An integrated circuit (IC) (420) includes self-calibrating programmable digital logic circuitry. The IC includes at least one programmable digital logic cell (431A-431E), wherein the programmable digital logic cell provides (i) a plurality of different accessible circuit configurations or (ii) a voltage level controller. A self-calibration system (435) is provided that includes at least one reference device (430), a measurement device (441) for measuring at least one electrical performance parameter that can affect a processing speed of the programmable digital logic cell (421A-431E) or at least one parameter that can affect the electrical performance parameter using the reference device to obtain calibration data. A processing device (442) maps the calibration data or a parameter derived therefrom to generate a control signal (446) that is operable to select from the plurality of different accessible circuit configurations or a voltage level output to change the processing speed of the programmable digital logic cell.
(FR)Un circuit intégré (IC) (420) comprend un montage de circuits logiques numériques programmables à étalonnage automatique. L’IC comprend au moins une cellule logique numérique programmable (431A-431E), chacune fournissant (i) une pluralité de configurations de circuits accessibles différentes ou (ii) un régulateur de niveau de tension. Un système d’étalonnage automatique (435) comprend au moins un dispositif de référence (430), un dispositif de mesure (441) conçu pour mesurer au moins un paramètre de performance électrique pouvant avoir une incidence sur la vitesse de traitement de la cellule logique numérique programmable (421A-431E) ou au moins un paramètre pouvant avoir une incidence sur ledit paramètre de performance électrique, en utilisant le dispositif de référence pour obtenir des données d’étalonnage. Un dispositif de traitement (442) met en correspondance les données d’étalonnage ou un paramètre dérivé de ces données pour produire un signal de commande (446) servant à sélectionner une configuration de la pluralité de configurations de circuits accessibles différentes ou une sortie de niveau de tension, dans le but de modifier la vitesse de traitement de ladite cellule logique numérique programmable.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)