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1. (WO2009133842) MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À TRANSMISSION ET PROCÉDÉ D’OBSERVATION D’UN ÉCHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/133842    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/058261
Date de publication : 05.11.2009 Date de dépôt international : 27.04.2009
CIB :
H01J 37/20 (2006.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shinbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP) (Tous Sauf US).
NAKAZAWA Eiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KOBAYASHI Hiroyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KUWABATA Susumu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NAKAZAWA Eiko; (JP).
KOBAYASHI Hiroyuki; (JP).
KUWABATA Susumu; (JP)
Mandataire : HIRAKI Yusuke; (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-117547 28.04.2008 JP
Titre (EN) TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF OBSERVING SPECIMEN
(FR) MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À TRANSMISSION ET PROCÉDÉ D’OBSERVATION D’UN ÉCHANTILLON
(JA) 透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a means capable of observing the shape of a specimen without deforming the specimen.  An ion liquid is held in a specimen holding member (e.g., a micro-grid or mesh) having openings, and the specimen is poured into the ion liquid, so that the specimen is observed by floating in the ion liquid.  In the vicinity of the specimen holding member, moreover, there are disposed a mechanism for injecting the ion liquid (i.e., an ion liquid introducing mechanism) and/or an electrode.  When a voltage is applied to the electrode, the specimen can be moved/deformed in the ion liquid so that the moved or deformed behavior can be observed.  The specimen can be poured into the ion liquid by disposing an evaporating device near the specimen holding member thereby vacuum-evaporating the specimen.  Moreover, a micro-capillary is disposed near the specimen holding member so that the liquid specimen can be poured into the ion liquid.  The specimen holding member can be rotated.
(FR)La présente invention concerne un moyen permettant d’observer la forme d’un échantillon sans déformer celui-ci. Un liquide ionique est maintenu dans un élément de support d’échantillon (par exemple, une microgrille ou un treillis) comportant des ouvertures, et l’échantillon est versé dans le liquide ionique, de façon que l’échantillon soit observé en flottant dans le liquide ionique. Au voisinage de l’élément de support d’échantillon, en outre, un mécanisme d’injection du liquide ionique (à savoir, un mécanisme d’introduction du liquide ionique) et/ou une électrode sont disposés. Lorsqu’une tension est appliquée à l’électrode, l’échantillon peut être déplacé/déformé dans le liquide ionique de façon que le comportement de déplacement ou de déformation puisse être observé. L’échantillon peut être versé dans le liquide ionique par la disposition d’un dispositif d’évaporation près de l’élément de support d’échantillon, évaporant de ce fait sous vide l’échantillon. En outre, un microcapillaire est disposé près de l’élément de support d’échantillon de façon que l’échantillon liquide puisse être versé dans le liquide ionique. L’élément de support d’échantillon peut être mis à tourner.
(JA) 試料を変形させずに試料そのものの形状を観察することのできる手段を提供する。開口部を有する試料保持部材(例えば、マイクログリッドやメッシュ等)にイオン液体を保持し、そこに試料を投入することによってイオン液体中に試料を浮かして観察する。さらに、試料保持部材の近傍に、イオン液体を注入する機構(イオン液体導入機構)及び/又は電極を設けている。電極に電圧を印加すると、試料がイオン液体中で移動・変形でき、移動したり変形したりする様子を観察することができるようになる。また、試料保持部材の近傍に、蒸着装置を設けて蒸着しながらイオン液体内に試料を投入できるようにする。さらに、試料保持部材の近傍に、マイクロキャピラリーを設け、液体状の試料をイオン液体内に投入できるようにする。また、試料保持部材は回転できるようになっている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)