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1. (WO2009117264) OUTIL DE COMPENSATION POUR L'ÉTALONNAGE DE MAHCINE D'ESSAI DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE À UNE VALEUR NORMALISÉE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/117264    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/036382
Date de publication : 24.09.2009 Date de dépôt international : 06.03.2009
CIB :
G01R 31/02 (2006.01), G01R 1/04 (2006.01)
Déposants : ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC. [US/US]; 13900 NW Science Park Dr. Portland, OR 97229 (US) (Tous Sauf US).
CHILD, Scott, L. [US/US]; (US) (US Seulement).
TUBBS, Nick, A. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : CHILD, Scott, L.; (US).
TUBBS, Nick, A.; (US)
Mandataire : KNIGHT, Michelle, L._; Young Basile Hanlon Macfarlane & Helmholdt P.C. 3001 West Big Beaver Road. Suite 624 Troy, MI 48084 (US)
Données relatives à la priorité :
12/052,883 21.03.2008 US
Titre (EN) COMPENSATION TOOL FOR CALIBRATING AN ELECTRONIC COMPONENT TESTING MACHINE TO A STANDARDIZED VALUE
(FR) OUTIL DE COMPENSATION POUR L'ÉTALONNAGE DE MAHCINE D'ESSAI DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE À UNE VALEUR NORMALISÉE
Abrégé : front page image
(EN)A compensation tool and process is provided for calibrating each test position located at a plurality of test modules of an electronic testing machine to a standardized value. Each test module is located on an angularly spaced radial line extending from an associated central axis and has a plurality of contacts for testing electronic components. The compensation tool includes a body having an axis of rotation coaxially alignable with the central axis for rotation to different angular positions, and a component-support member operably associated with the body for indexing movement to selectively align with different contacts associated with each test position. The component-support member includes a pocket for receiving an electronic component with terminated ends extending outwardly to allow electrical contact and testing at each test position.
(FR)L'invention concerne un outil et un procédé de compensation pour l'talonnage de chaque position d'essai se trouvant sur une pluralité de modules d'essai de machine d'essai électronique à une valeur normalisée. Chaque module d'essai se trouve sur une ligne radiale à espacement angulaire qui s'étend depuis un axe central associé et comporte plusieurs contacts pour l'essai de compsants électorniques. L'outil comprend un corps avec axe de rotation à alignement coaxial avec l'axe central aux fins de rotation vers différentes positions angulaires, et un élément support de composant associé opérationnel au corps pour l'indexation de mouvement permettant un alignement sélectif avec différents contacts associés à chaque posuition d'essai. L'élément support comprend une poche de réception de composant électronique avec des extrémités à terminaisons adaptées s'étendant vers l'extérieur pour permettre un contact électrique et un essai à chaque position d'essai.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)