WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2009117263) DISPOSITIF DE RÉGLAGE ET DE CALIBRAGE DE TESTEUR ÉLECTRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/117263    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/036373
Date de publication : 24.09.2009 Date de dépôt international : 06.03.2009
CIB :
G01R 19/145 (2006.01), G01R 31/00 (2006.01)
Déposants : ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC. [US/US]; 13900 NW Science Park Drive, Portland, Oregon 97229 (US) (Tous Sauf US).
BARRETT, Spencer B. [US/US]; (US) (US Seulement).
MCCURRY, Brandon J. [US/US]; (US) (US Seulement).
ALMONTE, Kenneth V. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BARRETT, Spencer B.; (US).
MCCURRY, Brandon J.; (US).
ALMONTE, Kenneth V.; (US)
Mandataire : KNIGHT, Michelle L.; Young Basile Hanlon MacFarlane & Helmholdt, PC, 3001 West Big Beaver Rd., Ste. 624, Troy, MI 48084 (US)
Données relatives à la priorité :
12/052,904 21.03.2008 US
Titre (EN) ELECTRICAL TESTER SETUP AND CALIBRATION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE RÉGLAGE ET DE CALIBRAGE DE TESTEUR ÉLECTRIQUE
Abrégé : front page image
(EN)An electronic testing machine includes a plurality of test modules, each of which has a plurality of contact pairs for testing electronic components. An apparatus and process for electrical test setup and calibration of the electronic testing machine includes a plate having at least one contact per track movable between test positions to electrically insert a test device selectively between any one contact pair. A control program can perform at least one test function through the plate.
(FR)L’invention concerne une machine de test électronique qui comprend une pluralité de modules de test, dont chacun possède une pluralité de paires de contacts pour tester des composants électroniques. Un appareil et un procédé de réglage et de calibrage de test électrique de la machine de test électronique comprend une plaque ayant au moins un contact par piste mobile entre des positions de test pour insérer électriquement un dispositif de test sélectivement entre n’importe quelle paire de contacts. Un programme de commande peut effectuer au moins une fonction de test par l’intermédiaire de la plaque.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)