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1. (WO2009117013) PROCÉDÉ DE MESURE DE DÉPÔT SUR UN SUBSTRAT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/117013    N° de la demande internationale :    PCT/US2008/067991
Date de publication : 24.09.2009 Date de dépôt international : 24.06.2008
CIB :
G01N 5/02 (2006.01)
Déposants : COLGATE-PALMOLIVE COMPANY [US/US]; 300 Park Avenue New York, NY 10022 (US) (Tous Sauf US).
HILLIARD, Peter, R., Jr. [US/US]; (US) (US Seulement).
KNORR, Joseph, R. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : HILLIARD, Peter, R., Jr.; (US).
KNORR, Joseph, R.; (US)
Mandataire : MORGAN, Michael, F.; Colgate-Palmolive Company, 909 River Road, P.O. Box 1343, Piscataway, NJ 08854 (US)
Données relatives à la priorité :
PCT/US2008/057814 21.03.2008 US
Titre (EN) METHOD OF MEASURING DEPOSITION ONTO A SUBSTRATE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE DÉPÔT SUR UN SUBSTRAT
Abrégé : front page image
(EN)A method of measuring the deposition of a composition onto a substrate. This information can be used to correlate how the composition will deposit on sanitary ware, such as shower cubicles, baths, and wash basins. The composition can be a liquid personal cleansing composition.
(FR)L'invention porte sur un procédé de mesure du dépôt d'une composition sur un substrat. Ces informations peuvent être utilisées pour corréler la façon dont la composition se déposera sur un équipement sanitaire, tel que des cabines de douche, des baignoires et des lavabos. La composition peut être une composition de nettoyage personnel liquide.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)