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1. (WO2009116735) SYSTÈME DE TEST DE DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR, GESTIONNAIRE DE TEST, TÊTE DE TEST, BLOC D'INTERFACE POUR TESTEUR DE DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR, PROCÉDÉ POUR LA CLASSIFICATION D'UN DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR TESTÉ ET PROCÉDÉ POUR LA PRISE EN CHARGE DU TEST D'UN DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/116735    N° de la demande internationale :    PCT/KR2009/001105
Date de publication : 24.09.2009 Date de dépôt international : 05.03.2009
CIB :
G01R 31/26 (2006.01), H01L 21/66 (2006.01)
Déposants : TECHWING., CO. LTD [KR/KR]; 401-81, 86 and 87, Cheonggye-ri, Dongtan-myeon, Hwaseong-si Gyeonggi-do 445-811 (KR) (Tous Sauf US).
NA, Yun-Sung [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KU, Tae-Hung [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KIM, Chang-Lae [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
YOO, Hyun-Jun [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : NA, Yun-Sung; (KR).
KU, Tae-Hung; (KR).
KIM, Chang-Lae; (KR).
YOO, Hyun-Jun; (KR)
Mandataire : TAEDONG INTERNATIONAL PATENT LAW FIRM; Taedong International Patent Law Firm 302, Daelim Office Valley 97-3 Guro-dong, Guro-gu Seoul 152-050 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2008-0024120 15.03.2008 KR
10-2008-0042821 08.05.2008 KR
10-2008-0072879 25.07.2008 KR
20-2008-0010388 04.08.2008 KR
Titre (EN) SEMICONDUCTOR DEVICE TEST SYSTEM, TEST HANDLER, AND TEST HEAD, INTERFACE BLOCK FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER, METHOD FOR CLASSIFYING TESTED SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING SEMICONDUCTOR DEVICE TEST
(FR) SYSTÈME DE TEST DE DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR, GESTIONNAIRE DE TEST, TÊTE DE TEST, BLOC D'INTERFACE POUR TESTEUR DE DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR, PROCÉDÉ POUR LA CLASSIFICATION D'UN DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR TESTÉ ET PROCÉDÉ POUR LA PRISE EN CHARGE DU TEST D'UN DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR
(KO) 반도체소자 테스트 시스템, 테스트핸들러, 테스트헤드, 반도체소자 테스터의 인터페이스블럭, 테스트가 이루어진 반도체소자의 분류방법 및 반도체소자 테스트 지원방법
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a semiconductor device test system and a semiconductor device semiconductor test handler, etc. According to the present invention, a temperature controller is provided for eliminating heat generated from a testing board installed at an interface block of a test head, thereby enabling a semiconductor device test to be properly performed.
(FR)L'invention concerne un système de test de dispositif à semi-conducteur, un gestionnaire de test, etc. L'invention comprend un régulateur de température servant à éliminer la chaleur générée par une carte de test d'un bloc d'interface d'une tête de test, permettant ainsi l'exécution correcte du test d'un dispositif à semi-conducteur.
(KO)본 발명은 반도체소자 테스트 시스템 및 테스트핸들러 등에 관한 것이다. 본 발명에 따르면 테스트헤드의 인터페이스블럭에 구비되는 테스팅보드에서 발생하는 열을 제거하기 위한 온도조절장치를 구비함으로써 반도체소자의 테스트가 적절히 이루어질 수 있도록 하는 기술이 개시된다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)