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1. (WO2009116696) APPAREIL POUR MESURER LA TEMPÉRATURE D'UNE BRIDE DE FIXATION D'ÉCHANTILLON DE MICROSCOPE CRYOÉLECTRONIQUE ET SON PROCÉDÉ D'UTILISATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/116696    N° de la demande internationale :    PCT/KR2008/001628
Date de publication : 24.09.2009 Date de dépôt international : 21.03.2008
CIB :
G01N 1/28 (2006.01), H01L 21/66 (2006.01)
Déposants : KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE [KR/KR]; 52, Eoeun-dong, Yusung-gu, Daejeon 350-333 (KR) (Tous Sauf US).
JEUNG, Jong-Man [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KIM, Youn-Joong [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : JEUNG, Jong-Man; (KR).
KIM, Youn-Joong; (KR)
Mandataire : KANG, Myung-Gu; #701 Bonghwa Bldg., 1392 Dunsan-dong, Seo-gu, Daejeon 302-831 (KR)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) AN APPARATUS FOR MEASURING THE TEMPERATURE OF CYRO EM-HOLDER SPECIMEN CRADLE AND A METHOD USING IT
(FR) APPAREIL POUR MESURER LA TEMPÉRATURE D'UNE BRIDE DE FIXATION D'ÉCHANTILLON DE MICROSCOPE CRYOÉLECTRONIQUE ET SON PROCÉDÉ D'UTILISATION
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to an apparatus for measuring the temperature of a cryo EM- holder specimen cradle used in a transmission electron microscope (TEM) and a method for measuring the temperature thereof using the same. The apparatus for measuring the temperature of a cryo EM-holder specimen cradle can measure an exact temperature by directly measuring the temperature of the cryo EM-holder specimen cradle used in a transmission electron microscope (TEM), as well as perform an experiment on the cryo EM-holder in the vacuum state as the inside of the TEM, and a method for measuring the temperature thereof using the same.
(FR)La présente invention porte sur un appareil pour mesurer la température d'une bride de fixation d'échantillon de support de microscope cryoélectronique utilisée dans un microscope électronique à transmission (TEM) et sur un procédé pour mesurer la température de celle-ci à l'aide de cet appareil. L'appareil pour mesurer la température d'une bride de fixation d'échantillon de support de microscope cryoélectronique peut mesurer une température exacte par mesure directe de la température de la bride de fixation d'échantillon de support de microscope cryoélectronique utilisée dans un microscope électronique à transmission (TEM), ainsi qu'effectuer une expérience sur le support de microscope cryoélectronique dans l'état sous vide, tel qu'à l'intérieur du TEM, et sur un procédé pour mesurer la température de celle-ci à l'aide de celui-ci.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : coréen (KO)