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1. (WO2009116121) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE TEST DES TÊTES MAGNÉTIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/116121    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/054850
Date de publication : 24.09.2009 Date de dépôt international : 17.03.2008
CIB :
G11B 5/455 (2006.01)
Déposants : FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa, 2118588 (JP) (Tous Sauf US).
SONG, Woo Suk [KR/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SONG, Woo Suk; (JP)
Mandataire : WATANUKI, Takao; Cre-A Center Bldg., 12-9, Nakagosho 3-chome, Nagano-shi, Nagano, 3800935 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MAGNETIC HEAD TESTING METHOD AND TESTING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE TEST DES TÊTES MAGNÉTIQUES
(JA) 磁気ヘッドの試験方法および試験装置
Abrégé : front page image
(EN)An object is to provide a magnetic head testing method and testing device for testing a magnetic response property by applying a high frequency magnetic field to a magnetic head immediately after processed to be in the shape of a rover. The magnetic head testing method comprises a step of generating magnetic fields in a parallel direction to a rotation axis different in at least one of strength and direction in adjacent positions from a plurality of magnetic generating sections provided with a predetermined gap therebetween in a circumference direction on the same circumference with a rotation axis in the center, and a step of testing the magnetic response property of the magnetic head by rotating the magnetic field generating section, sequentially applying the magnetic fields, which rotationally transfer in association with the rotation, to the magnetic head fixed in a predetermined direction.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un dispositif de test des têtes magnétiques permettant de vérifier la caractéristique de réponse magnétique en soumettant cette tête magnétique à un champ magnétique haute fréquence immédiatement après fabrication, le dispositif devant se présenter sous forme d'un élément mobile. Le procédé de test des têtes magnétiques comporte plusieurs opérations. On commence par générer des champs magnétiques selon un axe parallèle à un axe de rotation différent en ce qui concerne au moins la force et le sens, en des positions adjacentes, à partir d'une pluralité de générateurs de champs magnétiques comportant entre eux un intervalle prédéterminé et circulaires sur le même cercle, l'axe de rotation étant centré. Ensuite, pour tester la caractéristique de réponse magnétique de la tête magnétique, on fait tourner le générateur de champ magnétique, appliquant séquentiellement les champs magnétiques qui se transfèrent à l'occasion de la rotation sur la tête magnétique fixée dans un sens prédéterminé.
(JA) ロウバー状に加工された直後の磁気ヘッドに対して、高周波数の磁界を印加して磁気応答特性の試験が可能な磁気ヘッドの試験方法および試験装置を提供することを目的とする。  本発明に係る磁気ヘッドの試験方法は、回転軸を中心とする同一円周上に、周方向に所定間隔を空けて設けられる複数の磁界発生部から、隣接位置相互で強度もしくは方向の少なくとも一方が異なる磁界を該回転軸と平行な方向に発生させる工程と、前記磁界発生部を回転させ、それに伴い回転移動する前記磁界を、所定の向きに固定された磁気ヘッドに順次印加して、該磁気ヘッドの磁気応答特性を試験する工程と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)