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1. (WO2009113857) PROCÉDÉ, SYSTÈME ET PROGRAMME D'ORDINATEUR POUR MESURER SANS CONTACT UN POURCENTAGE D'HUMIDITÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2009/113857 N° de la demande internationale : PCT/NL2009/050119
Date de publication : 17.09.2009 Date de dépôt international : 11.03.2009
CIB :
G01N 22/04 (2006.01) ,G01N 33/34 (2006.01)
Déposants : MAAS, Arnoldus Petrus Maria[NL/NL]; NL (UsOnly)
VAN DE LIST, Jozef Franciscus Maria[NL/NL]; NL (UsOnly)
GROOTERS, Reindert[NL/NL]; NL (UsOnly)
BOLT, Roland Johannes[NL/NL]; NL (UsOnly)
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO[NL/NL]; Schoemakerstraat 97 NL-2628 VK Delft, NL (AllExceptUS)
Inventeurs : MAAS, Arnoldus Petrus Maria; NL
VAN DE LIST, Jozef Franciscus Maria; NL
GROOTERS, Reindert; NL
BOLT, Roland Johannes; NL
Mandataire : HATZMANN, M.J.; NL
Données relatives à la priorité :
08152598.211.03.2008EP
Titre (EN) METHOD, SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM FOR CONTACTLESS MEASURING A MOISTURE PERCENTAGE
(FR) PROCÉDÉ, SYSTÈME ET PROGRAMME D'ORDINATEUR POUR MESURER SANS CONTACT UN POURCENTAGE D'HUMIDITÉ
Abrégé : front page image
(EN) The invention relates to a method for contactless measuring a moisture percentage in a substantially flat structure (3) by transmitting an incident electromagnetic wave towards the substantially flat structure, receiving an electromagnetic wave reflected by the structure, determining a reflection coefficient from characteristics of the reflected electromagnetic wave and mapping the reflection coefficient to a moisture percentage.
(FR) L'invention porte sur un procédé pour mesurer sans contact un pourcentage d'humidité dans une structure sensiblement plate (3) par transmission d'une onde électromagnétique incidente vers la structure sensiblement plate, réception d'une onde électromagnétique réfléchie par la structure, détermination d'un coefficient de réflexion à partir de caractéristiques de l'onde électromagnétique réfléchie et mise en correspondance du coefficient de réflexion avec un pourcentage d'humidité.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)