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1. (WO2009113250) ÉLECTRODE À FILM MINCE, ET CELLULE DE MESURE ET DISPOSITIF D'INSPECTION AYANT L'ÉLECTRODE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2009/113250 N° de la demande internationale : PCT/JP2009/000755
Date de publication : 17.09.2009 Date de dépôt international : 23.02.2009
CIB :
G01N 27/02 (2006.01) ,C12M 1/34 (2006.01) ,G01N 27/447 (2006.01)
Déposants : KUZUOKA, Atsushi; null (UsOnly)
OOUCHI, Kazufumi; null (UsOnly)
PANASONIC CORPORATION[JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501, JP (AllExceptUS)
Inventeurs : KUZUOKA, Atsushi; null
OOUCHI, Kazufumi; null
Mandataire : SHINJYU GLOBAL IP; South Forest Bldg., 1-4-19, Minamimori-machi, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300054, JP
Données relatives à la priorité :
2008-06270212.03.2008JP
2008-06270312.03.2008JP
Titre (EN) THIN-FILM ELECTRODE, AND MEASURING CELL AND INSPECTING DEVICE HAVING THE ELECTRODE
(FR) ÉLECTRODE À FILM MINCE, ET CELLULE DE MESURE ET DISPOSITIF D'INSPECTION AYANT L'ÉLECTRODE
(JA) 薄膜電極、これを備えた測定セル及び検査装置
Abrégé : front page image
(EN) Provided is an inspecting device which can avoid the influences of a drift even when a solution of a high conductivity is to be inspected, thereby to improve the precision for measuring an inspecting object quantitatively. In an inspecting device (9) for measuring an electrode impedance thereby to measure the state of the inspecting object quantitatively, a thin-film electrode (2) traps the inspecting object in a solution with an electrophoretic force. The thin-film electrode (2) comprises an electrode substrate (10), a conducting portion (11) formed on the electrode substrate (10), a first surface portion (18), and a second surface portion (19). The first surface portion (18) exists on one face of the thin-film electrode (2), and is arranged to contact a solution. The second surface portion (19) exists on the other face of the thin-film electrode (2), and is covered.
(FR) L'invention porte sur un dispositif d'inspection qui peut éviter les influences d'une dérive même lorsqu'une solution d'une conductivité élevée doit être inspectée, pour ainsi améliorer la précision de mesure d'un objet à inspecter de manière quantitative. Dans un dispositif d'inspection (9) pour mesurer une impédance d'électrode, pour ainsi mesurer l'état de l'objet à inspecter de manière quantitative, une électrode à film mince (2) piège l'objet à inspecter dans une solution avec une force électrophorétique. L'électrode à film mince (2) comprend un substrat d'électrode (10), une partie conductrice (11) formée sur le substrat d'électrode (10), une première partie de surface (18) et une seconde partie de surface (19). La première partie de surface (18) est présente sur une face de l'électrode à film mince (2), et est agencée pour entrer en contact avec une solution. La seconde partie de surface (19) est présente sur l'autre face de l'électrode à film mince (2), et est recouverte.
(JA)  高導電率の溶液を検査する場合であってもドリフトの影響を回避し、被検査物を定量的に測定する精度を向上させることを可能にする。電極インピーダンスを測定して被検査物の状態を定量的に測定する検査装置(9)において溶液中の前記被検査物を電気泳動力によって捕集するための薄膜電極(2)であって、電極基板(10)と、同電極基板(10)に形成された導電部(11)と、第1表面部(18)と、第2表面部(19)とを備える。第1表面部(18)は、薄膜電極(2)の一方の面にあり、溶液に接するように配される。第2表面部(19)は、薄膜電極(2)の他方の面にあり、被覆されている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)