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1. (WO2009112431) MICROSCOPIE NON LINÉAIRE AMÉLIORÉE À RÉSONANCE PLASMONIQUE DE SURFACE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/112431    N° de la demande internationale :    PCT/EP2009/052641
Date de publication : 17.09.2009 Date de dépôt international : 05.03.2009
CIB :
G01N 21/63 (2006.01), G01N 21/55 (2006.01)
Déposants : ECOLE NORMALE SUPERIEURE DE LYON [FR/FR]; 46 Allée d'Italie F-69364 LYON CEDEX 07 (FR) (Tous Sauf US).
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3 RUE MICHEL ANGE F-75794 PARIS CEDEX 16 (FR) (Tous Sauf US).
EAST CHINA NORMAL UNIVERSITY [CN/CN]; North Zhongshan road 3663 Shanghai 200062 (CN) (Tous Sauf US).
ARGOUL, Françoise [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
BERGUIGA, Lofti [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
ZENG, Heping [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
ZHANG, Sanjun [CN/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : ARGOUL, Françoise; (FR).
BERGUIGA, Lofti; (FR).
ZENG, Heping; (CN).
ZHANG, Sanjun; (FR)
Mandataire : BLANCHARD, Eugène; (FR)
Données relatives à la priorité :
08305052.6 12.03.2008 EP
Titre (EN) SURFACE PLASMON RESONANCE ENHANCED NONLINEAR MICROSCOPY
(FR) MICROSCOPIE NON LINÉAIRE AMÉLIORÉE À RÉSONANCE PLASMONIQUE DE SURFACE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a nonlinear microscopy method for imaging a sample (S) by means of harmonic generation, characterized in that the electromagnetic field E of the excitation light beam (L) illuminating the sample is amplified by surface plasmon resonance (SPR) at the interface between said sample (S) and a metal layer (5) onto which the sample is lying and said excitation light beam to amplify the intensity of harmonic light beams (2L) in an observation beam reflected or transmitted from the sample. The invention also proposes a microscope to carry out the method of the invention.
(FR)La présente invention porte sur un procédé de microscopie non linéaire pour l'imagerie d'un échantillon (S) au moyen de la génération d'harmoniques, caractérisé par le fait que le champ électromagnétique E du faisceau de lumière d'excitation (L) éclairant l'échantillon est amplifié par résonance plasmonique de surface (SPR) à l'interface entre ledit échantillon (S) et une couche métallique (5) sur laquelle l'échantillon repose et par ledit faisceau de lumière d'excitation pour amplifier l'intensité des faisceaux de lumière harmoniques (2L) dans un faisceau d'observation réfléchi ou transmis à partir de l'échantillon. L'invention porte également sur un microscope pour mettre en œuvre le procédé de l'invention.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)