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1. (WO2009110290) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/110290    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/052307
Date de publication : 11.09.2009 Date de dépôt international : 12.02.2009
CIB :
H01L 21/822 (2006.01), H01L 27/04 (2006.01)
Déposants : NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1080014 (JP) (Tous Sauf US).
KAJIHARA, Nobuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KAJIHARA, Nobuki; (JP)
Mandataire : YAMASHITA, Johei; YAMASHITA & ASSOCIATES, Landic Toranomon Bldg., 7-10, Toranomon 3-chome, Minato-ku, Tokyo 1050001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-053345 04.03.2008 JP
Titre (EN) SEMICONDUCTOR DEVICE
(FR) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR
(JA) 半導体デバイス
Abrégé : front page image
(EN)The power performance of a semiconductor device is autonomously optimized according to a predetermined set evaluation criterion. The semiconductor device equipped with a plurality of IP (Intellectual Property) cores comprises a means for observing a state of each of the IP cores and a means for controlling the operation mode of each of the IP cores, a device state measuring means for measuring the device state of the semiconductor device, a processing performance measuring means for measuring the processing performance of the semiconductor device, an adaptive mode setting means for specifying the evaluation criterion for the power performance of the device, a power performance evaluating means for evaluating the evaluation value of the quality of the power performance of the device on the basis of the output of the device state measuring means and the processing performance measuring means and the setting value of the adaptive mode setting means, and an adaptive means for autonomously learning the rule for controlling the operation mode of each of the IP cores to control the operation mode of each of the IP cores so that the power performance of the entire device becomes in a predetermined state.
(FR)Selon l'invention, la performance de puissance d'un dispositif à semi-conducteur est optimisée de façon autonome selon un critère d'évaluation réglé prédéterminé. Le dispositif à semi-conducteur équipé d'une pluralité de cœurs de propriété intellectuelle (IP) comprend des moyens pour observer un état de chacun des cœurs IP et des moyens pour commander le mode de fonctionnement de chacun des cœurs IP, des moyens de mesure d'état de dispositif pour mesurer l'état de dispositif du dispositif à semi-conducteur, des moyens de mesure de performance de traitement pour mesurer la performance de traitement du dispositif à semi-conducteur, des moyens de réglage de mode adaptatif pour spécifier le critère d'évaluation des performances de puissance du dispositif, des moyens d'évaluation de performance de puissance pour évaluer la valeur d'évaluation de la qualité de la performance de puissance du dispositif sur la base de la sortie des moyens de mesure d'état de dispositif et des moyens de mesure de performance de traitement et de la valeur de réglage des moyens de réglage de mode adaptatif, et des moyens adaptatifs pour apprendre de façon autonome la règle permettant de commander le mode de fonctionnement de chacun des cœurs IP afin de commander le mode de fonctionnement de chacun des cœurs IP de telle manière que la performance de puissance de dispositif entier devient un état prédéterminé.
(JA) 半導体デバイスの電力性能を、設定した所定の評価基準にしたがって自律的に最適化する。  複数のIP(Intellectual Property)コアを搭載する半導体デバイスであって、前記各IPコアの状態観測手段と、前記各IPコアの動作モードを制御する手段と、前記半導体デバイスのデバイス状態を計測するデバイス状態計測手段と、前記半導体デバイスでの処理性能を計測する処理性能計測手段と、前記デバイスの電力性能の評価基準を指定する適応モード設定手段と、前記デバイス状態計測手段、前記処理性能計測手段の出力と、前記適応モード設定手段の設置値に基づきデバイスの電力性能の良否の評価値を評価する電力性能評価手段と、前記デバイス全体の電力性能が所定の状態となるように、各IPコアの動作モードの制御則を自律的に学習し、各IPコアの動作モードを制御する適応手段と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)