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PATENTSCOPE

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1. (WO2009108494) ESTIMATION À BASE DE MODÈLE D'HYSTÉRÈSE DE BATTERIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2009/108494 N° de la demande internationale : PCT/US2009/033710
Date de publication : 03.09.2009 Date de dépôt international : 11.02.2009
CIB :
G01R 31/36 (2006.01) ,G01R 29/24 (2006.01) ,G01R 19/00 (2006.01) ,G05B 13/04 (2006.01)
Déposants : GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS, INC.[US/US]; 300 Renaissance Center P.O. Box 300 Detroit, MI 48265-3000, US (AllExceptUS)
Inventeurs : TANG, Xidong; US
ZHANG, Xiaodong; US
CHIN, Yuen-Kwok; US
KOCH, Brian J.; US
FRISCH, Damon R.; US
Mandataire : CICHOSZ, Vincent, A.; Cichosz And Cichosz, PLLC 129 E. Commerce Street Milford, MI 48381, US
Données relatives à la priorité :
12/033,19719.02.2008US
Titre (EN) MODEL-BASED ESTIMATION OF BATTERY HYSTERESIS
(FR) ESTIMATION À BASE DE MODÈLE D'HYSTÉRÈSE DE BATTERIE
Abrégé : front page image
(EN) A method of battery state of charge estimation considering battery hysteresis includes using a Preisach-model-based algorithm to calculate a battery state of charge.
(FR) L'invention porte sur un procédé d'estimation d'état de charge de batterie prenant en considération une hystérèse de batterie, lequel procédé comprend l'utilisation d'un algorithme à base de modèle de Preisach pour calculer un état de charge de batterie.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)