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1. (WO2009107981) APPAREIL ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE MESURER UNE FORME EN TROIS DIMENSIONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/107981    N° de la demande internationale :    PCT/KR2009/000904
Date de publication : 03.09.2009 Date de dépôt international : 25.02.2009
CIB :
G01B 11/24 (2006.01), G01B 11/25 (2006.01), G06F 9/00 (2006.01), G02B 27/00 (2006.01), G02B 5/00 (2006.01)
Déposants : KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. [KR/KR]; Fl.14 10-cha Acetechno Tower 470-5 Gasan-dong, Geumcheon-gu Seoul 153-789 (KR) (Tous Sauf US).
LEE, Seung-Jun [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KHO, Kwang-Ill [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
JEON, Moon-Young [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
YUN, Sang-Kyu [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KIM, Hong-Min [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
HUR, Jung [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : LEE, Seung-Jun; (KR).
KHO, Kwang-Ill; (KR).
JEON, Moon-Young; (KR).
YUN, Sang-Kyu; (KR).
KIM, Hong-Min; (KR).
HUR, Jung; (KR)
Mandataire : KIM, Choong-Seok; (KR).
LEE, Seon-Jae; (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2008-0017439 26.02.2008 KR
10-2008-0082629 23.08.2008 KR
10-2009-0015691 25.02.2009 KR
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING A THREE-DIMENSIONAL SHAPE
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE MESURER UNE FORME EN TROIS DIMENSIONS
(KO) 3차원형상 측정장치 및 측정방법
Abrégé : front page image
(EN)Provided are an apparatus and a method for measuring a three-dimensional shape with improved accuracy. The apparatus includes a stage, at least one lighting unit, a plurality of image pickup units and a control unit. The stage supports an object to be measured. The lighting unit includes a light source and a grid, and radiates grid-patterned light onto the object to be measured. The image pickup units capture, in different directions, grid images reflected from the object to be measured. The control unit calculates a three-dimensional shape of the object from the grid images captured by the image pickup units. The present invention has advantages in capturing grid images through a main image pickup portion and sub-image pickup portions, enabling the measurement of the three-dimensional shape of the object in a rapid and accurate manner.
(FR)L'invention concerne un appareil et un procédé permettant de mesurer une forme en trois dimensions avec une précision améliorée. L'appareil comprend un étage, au moins une unité d'éclairage, une pluralité d'unités de prise de vues et une unité de commande. L'étage est conçu pour maintenir un objet devant être mesuré. L'unité d'éclairage comprend une source lumineuse et une grille et elle envoie un rayonnement de lumière en motifs de grille sur l'objet devant être mesuré. Les unités de prise de vues capturent, dans différentes directions, des images de grille réflechies par l'objet devant être mesuré. L'unité de commande calcule une forme en trois dimensions de l'objet à partir des images de grille capturées par les unités de prise de vues. Le mode de réalisation décrit dans cette invention présente l'avantage de capturer des images de grille par l'intermédiaire d'une partie de prise de vues principale et de parties de prise de vues secondaires, ce qui permet de mesurer la forme en trois dimensions de l'objet de manière rapide et précise.
(KO)측정 정밀도를 높일 수 있는 3차원 형상 측정장치 및 측정방법이 개시되어 있다. 3차원 형상 측정장치는 스테이지, 적어도 하나의 조명부, 복수의 촬상부들 및 제어부를 포함한다. 스테이지는 측정대상물을 지지한다. 조명부는 광원 및 격자를 포함하며, 측정대상물에 격자무늬조명을 조사한다. 촬상부들은 측정대상물에서 반사되어 나오는 격자 이미지를 서로 다른 방향에서 촬상한다. 제어부는 촬상부들에서 촬상된 격자 이미지들을 이용하여 측정대상물의 3차원 형상을 산출한다. 이와 같이, 메인 촬상부 및 서브 촬상부들을 통해 격자 이미지를 촬상함으로써, 측정대상물의 3차원 형상을 보다 신속하고 정밀하게 측정할 수 있다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)