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1. (WO2009107575) DISPOSITIF POUR EXAMINER DE FAÇON NON DESTRUCTIVE UNE STRUCTURE COMPOSITE ET PROCÉDÉ D'EXAMEN NON DESTRUCTIF
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/107575    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/053140
Date de publication : 03.09.2009 Date de dépôt international : 23.02.2009
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    24.09.2009    
CIB :
G01N 23/22 (2006.01), G01B 15/04 (2006.01), G01T 1/20 (2006.01), G01T 1/29 (2006.01), G01T 1/203 (2006.01)
Déposants : INTER-UNIVERSITY RESEARCH INSTITUTE CORPORATION HIGH ENERGY ACCELERATOR RESEARCH ORGANIZATION [JP/JP]; 1-1, Oho, Tsukuba-shi, Ibaraki 3050801 (JP) (Tous Sauf US).
NAGAMINE, Kanetada [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NAGAMINE, Kanetada; (JP)
Mandataire : NISHIYAMA, Yoshiaki; 7th Floor, Asakokyobashi Bldg., 6-13, Kyobashi 1-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040031 (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-043595 25.02.2008 JP
Titre (EN) DEVICE FOR NONDESTRUCTIVELY EXAMINING COMPOSITE STRUCTURE AND NONDESTRUCTIVE EXAMINATION METHOD
(FR) DISPOSITIF POUR EXAMINER DE FAÇON NON DESTRUCTIVE UNE STRUCTURE COMPOSITE ET PROCÉDÉ D'EXAMEN NON DESTRUCTIF
(JA) 複合構造物の非破壊検査装置及び非破壊検査方法
Abrégé : front page image
(EN)A device for nondestructively examining the inside of the surface layer of a composite structure by using muons of cosmic rays and a nondestructive examination method are disclosed. The device is used for examining the inside of the surface layer of a composite structure (11) by using muons (12) of cosmic rays traveling generally horizontally and having spins polarized by predetermined degrees in the traveling direction. The device includes a positron/electron amount detecting means (13) for detecting the amount of positrons/electrons having characteristic time constants and reflected/emitted in the opposite direction to the direction of application of muons (12) when muons (12) which come to rest inside the composite structure (11) annihilate and radiography data processing means (14, 15, 16) for processing data relating to the state of a second substance (11-2) different from a first substance (11-1) of the surface layer present inside the surface layer of the composite structure (11) according to the detected amount of positrons/electron and outputting the state of the second substance (11-2) as a radiograph.
(FR)L'invention porte sur un dispositif pour examiner de façon non destructive l'intérieur de la couche de surface d'une structure composite à l'aide de muons de rayons cosmiques et sur un procédé d'examen non destructif. Le dispositif est utilisé pour examiner l'intérieur de la couche de surface d'une structure composite (11) à l'aide de muons (12) de rayons cosmiques se déplaçant de façon globalement horizontale et ayant des spins polarisés à des degrés prédéterminés dans la direction de déplacement. Le dispositif comprend un moyen de détection de quantité de positrons/électrons (13) pour détecter la quantité de positrons/électrons ayant des constantes de temps caractéristiques et réfléchis/émis dans la direction opposée à la direction d'application de muons (12) lorsque des muons (12) qui viennent au repos à l'intérieur de la structure composite (11) s'annihilent, et un moyen de traitement de données de radiographie (14, 15, 16) pour traiter des données concernant l'état d'une deuxième substance (11-2) différente d'une première substance (11-1) de la couche de surface présente à l'intérieur de la couche de surface de la structure composite (11) en fonction de la quantité détectée de positrons/électrons, et délivrer en sortie l'état de la deuxième substance (11-2) sous la forme d'une radiographie.
(JA) 宇宙線ミュオンを利用して、複合構造物の表層内部を検査する非破壊検査装置及び非破壊検査方法を提供する。進行方向に所定量だけスピン偏極し概ね水平方向に進行する宇宙線ミュオン12を利用して、複合構造物11の表層内部を検査する非破壊検査装置であって、前記複合構造物11の内部に静止した前記宇宙線ミュオン12の消滅に伴って前記宇宙線ミュオン12の照射方向とは逆方向に特性の時定数を持って反射放出される陽電子・電子量を検出する陽電子・電子量検出手段13と、前記陽電子・電子量検出手段13おいて検出された陽電子・電子量から前記複合構造物11の前記表層内部に存在する前記表層の第1の物質11-1とは異なる第2の物質11-2の状態をラジオグラフィとしてデータ処理し出力するラジオグラフィデータ処理手段14、15、16、の各手段を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)