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1. (WO2009107365) PROCÉDÉ DE TEST ET DISPOSITIF DE TEST POUR DISPOSITIF DE MESURE DE DISTANCE D'ŒIL COMPOSÉ ET GRAPHIQUE UTILISÉ POUR CELUI-CI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/107365    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/000805
Date de publication : 03.09.2009 Date de dépôt international : 24.02.2009
CIB :
G01C 3/00 (2006.01), G01C 3/06 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka, 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
IMAMURA, Norihiro; (US Seulement)
Inventeurs : IMAMURA, Norihiro;
Mandataire : NII, Hiromori; c/o NII Patent Firm, 6F, Tanaka Ito Pia Shin-Osaka Bldg., 3-10, Nishi Nakajima 5-chome, Yodogawa-ku, Osaka-city, Osaka 5320011 (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-044864 26.02.2008 JP
Titre (EN) TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR COMPOUND-EYE DISTANCE MEASURING DEVICE AND CHART USED THEREFOR
(FR) PROCÉDÉ DE TEST ET DISPOSITIF DE TEST POUR DISPOSITIF DE MESURE DE DISTANCE D'ŒIL COMPOSÉ ET GRAPHIQUE UTILISÉ POUR CELUI-CI
(JA) 複眼測距装置の検査方法及び検査装置並びにそれに用いるチャート
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a test method for a compound-eye distance measuring device capable of accurately testing the entire region inside an imaging field of view and testing the distance accuracy of the compound-eye distance measuring device with two baseline directions by one-time imaging. The test method comprises a disposition step of disposing a test chart (C1) at a predetermined distance from a compound-eye distance measuring device (200), a measurement step of measuring a distance to the test chart (C1) by the compound-eye distance measuring device (200), and an evaluation step of calculating a difference between the predetermined distance and the measured distance and evaluating whether the calculated difference is within a predetermined range of values. The test chart (C1) is set in such a manner that predetermined geometric patterns (A0) are arranged in a two-dimensional array along a first and second arrangement directions and that the first arrangement direction and the second arrangement direction form predetermined angles (ϑ1, ϑ2) with a first baseline direction and a second baseline direction, respectively.
(FR)L'invention porte sur un dispositif de test pour un dispositif de mesure de distance d'œil composé, capable de tester avec précision la totalité de la région à l'intérieur d'un champ de visualisation d'image et de tester la précision de distance du dispositif de mesure de distance d'œil composé avec deux directions de ligne de base par une unique imagerie. Le procédé de test comprend une étape de disposition consistant à disposer un graphique de test (C1) à une distance prédéterminée d'un dispositif de mesure de distance d'œil composé (200), une étape de mesure consistant à mesurer une distance au graphique de test (C1) par le dispositif de mesure de distance d'œil composé (200), et une étape d'évaluation consistant à calculer une différence entre la distance prédéterminée et la distance mesurée et à évaluer si la différence calculée se trouve ou non à l'intérieur d'une plage de valeurs prédéterminée. Le graphique de test (C1) est disposé de telle sorte que des motifs géométriques prédéterminés (A0) sont disposés en un réseau en deux dimensions le long d'une première et d'une deuxième direction de disposition, et que la première direction de disposition et la deuxième direction de disposition forment des angles prédéterminés (ϑ1, ϑ2) avec une première direction de ligne de base et une deuxième direction de ligne de base, respectivement.
(JA)撮像視野内の全領域を精度良く検査し、かつ、2つの基線方向を有する複眼測距装置の距離精度を1回の撮像で検査できる複眼測距装置の検査方法が提供される。その検査方法は、複眼測距装置(200)から所定距離に検査チャート(C1)を配置する配置工程と、複眼測距装置(200)によって検査チャート(C1)までの距離を測定する測定工程と、上記所定距離と測定された距離との差分を算出し、算出した差分が予め定められた値の範囲内にあるかどうかを評価する評価工程とを含み、検査チャート(C1)は、所定の幾何学的パターン(A0)が第1および第2の配列方向に2次元的にアレイ状に配列され、第1の配列方向および第2の配列方向がそれぞれ第1の基線方向および第2の基線方向に対してそれぞれ所定の角度(θ1、θ2)を成すように設定されている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)