WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2009105902) MICROSCOPE OPTIQUE À INTERFÉRENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/105902    N° de la demande internationale :    PCT/CH2008/000079
Date de publication : 03.09.2009 Date de dépôt international : 28.02.2008
CIB :
G02B 21/08 (2006.01), G02B 21/24 (2006.01)
Déposants : BEERLI, Fredy, F. [CH/CH]; (CH)
Inventeurs : BEERLI, Fredy, F.; (CH)
Mandataire : E. BLUM & CO. AG; Vorderberg 11, CH-8044 Zürich (CH)
Données relatives à la priorité :
Titre (DE) INTERFERENZ-LICHTMIKROSKOP
(EN) INTERFERENCE LIGHT-OPTICAL MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE OPTIQUE À INTERFÉRENCE
Abrégé : front page image
(DE)Beschrieben wird ein Lichtmikroskop (6) mit einer Mikroskopsäule (7), einem Objektivkörper (26), einer Lichtquelle und einer Präparatebene (4), welches dadurch gekennzeichnet ist, dass es eine Anordnung der Lichtquelle und der Präparatebene (4) aufweist derart dass der Lichteinfallstrahl (1) und der Lichtausfallstrahl (2) bezogen auf die Vertikale (3) der Präparatebene (4) den gleichen Winkelbetrag ALPHA haben und dass der Lichtausfallstrahl (2) genau auf die Richtung des optischen Objektstrahls (5) des Mikroskops (6) ausgerichtet ist. Ein solches Mikroskop eignet sich zur Betrachtung sehr dünner Schichten.
(EN)The invention relates to a light-optical microscope (6), comprising a microscope column (7), a lens body (26), a light source, and a specimen surface (4), characterized in that it has an arrangement of the light source and the specimen surface (4) such that the incident light beam (1) and the exiting light beam (2) have the same angular amount ALPHA relative to the vertical line (3) of the specimen surface (2), and that the exiting light beam (2) is oriented exactly at the direction of the optical object beam (5) of the microscope (6). Such a microscope is suited for observing very thin layers.
(FR)L'invention concerne un microscope optique (6) comprenant un montant (7), un corps d'objectif (26), une source lumineuse et un plan d'objet (4), caractérisé en que la source lumineuse et le plan d'objet (4) sont agencés de telle manière que le faisceau lumineux (1) incident et le faisceau lumineux réfléchi (2) forment un angle ALPHA de même valeur par rapport à la perpendiculaire (3) du plan d'objet (4), et que le faisceau lumineux réfléchi (2) est orienté exactement dans la direction du faisceau optique objet (5) du microscope (6). Ce microscope convient pour l'examen de couches très minces.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)