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1. (WO2009105885) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR INTERROGER DES COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/105885    N° de la demande internationale :    PCT/CA2009/000235
Date de publication : 03.09.2009 Date de dépôt international : 26.02.2009
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/302 (2006.01), H01L 21/66 (2006.01), H05K 13/08 (2006.01)
Déposants : Scanimetrics lnc. [CA/CA]; 4500, 10230 Jasper Avenue Edmonton, Alberta T5J 4P6 (CA) (Tous Sauf US).
SLUPSKY, Steven [CA/CA]; (CA) (US Seulement).
MOORE, Brian [CA/CA]; (CA) (US Seulement).
SELLATHAMBY, Christopher, V. [CA/CA]; (CA) (US Seulement)
Inventeurs : SLUPSKY, Steven; (CA).
MOORE, Brian; (CA).
SELLATHAMBY, Christopher, V.; (CA)
Mandataire : THOMPSON, Douglas, B.; THOMPSON, Douglas B c/o THOMPSON & ASSOCIATES 10328 - 81 Avenue, Suite #200 Edmonton, Alberta T6E 1X2 (CA)
Données relatives à la priorité :
61/031,805 27.02.2008 US
2,623,257 29.02.2008 CA
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR INTERROGATING ELECTRONIC COMPONENTS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR INTERROGER DES COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus for interrogating an electronic circuit supported by a substrate includes a tester external to the substrate and comprising an tester transceiver. A testing circuit is supported by the substrate and connected to the electronic circuit. The testing circuit includes a processor and a testing circuit transceiver in communication with the tester transceiver for transmitting instructions from the tester to the processor and for transmitting results of an interrogation from the processor to the tester. The processor being programmed to process instructions from the tester to interrogate the electronic circuit with an interrogation corresponding to the instructions.
(FR)La présente invention concerne un appareil destiné à interroger un circuit électronique placé sur un substrat comprenant un testeur externe au substrat et un émetteur-récepteur de testeur. Un circuit de test est placé sur le substrat et connecté au circuit électronique. Le circuit de test comprend un processeur et un émetteur-récepteur du circuit de test en communication avec l’émetteur-récepteur du testeur pour transmettre des instructions envoyées par le testeur au processeur et pour transmettre les résultats d’une interrogation du processeur au testeur. Le processeur est programmé pour traiter des instructions envoyées par le testeur afin d’interroger le circuit électronique avec une interrogation correspondant aux instructions.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)