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1. (WO2009093422) DISPOSITIF D'ANALYSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/093422    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/000120
Date de publication : 30.07.2009 Date de dépôt international : 15.01.2009
CIB :
G01N 35/08 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka, 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
HYOUDOU, Masatake; (US Seulement).
SUZUKI, Takuya; (US Seulement)
Inventeurs : HYOUDOU, Masatake; .
SUZUKI, Takuya;
Mandataire : HARADA, Yohei; OX Nishihonmachi Bldg. 4th Floor, 10-10, Nishi-Hommachi 1-chome, Nishi-ku, Osaka-shi, Osaka, 5500005 (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-009951 21.01.2008 JP
2008-295002 19.11.2008 JP
Titre (EN) ANALYZING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE
(JA) 分析装置
Abrégé : front page image
(EN)A position detection mark (18) is provided to have any of a reflective surface, a refractive surface and a light shielding surface for blocking output light that is incident on a sensor (113) from a light source (12) when the output light arrives at a rotation position right before or behind measurement spots (17a, 17b, 17c) of an analyzing device (1). The analyzing device stores an output signal of the sensor (113) at a memory (28), wherein the sensor (113) reads out the measurement spots (17a, 17b, 17c), judges positions of the measurement spots (17a, 17b, 17c) from light receiving data stored at the memory (28) and extracts only a target analyzing signal, thereby reading out each measurement spot without adding components even if the number of spots increases.
(FR)L'invention concerne une marque de détection de position (18) qui comporte l'une quelconque parmi une surface réfléchissante, une surface réfractive et une surface faisant écran à la lumière pour bloquer la lumière émise qui est incidente sur un capteur (113) et provient d'une source lumineuse (12) lorsque la lumière émise arrive sur une position de rotation juste avant ou après les points de mesure (17a, 17b, 17c) d'un dispositif d'analyse (1). Le dispositif d'analyse stocke un signal de sortie provenant du capteur (113) dans une mémoire (28), et le capteur (113) lit les points de mesure (17a, 17b, 17c), estime les positions des points de mesure (17a, 17b, 17c) d'après les données de réception de lumière stockées dans la mémoire (28) et extrait seulement un signal d'analyse de la cible, en lisant ainsi chaque point de mesure sans ajouter de composants même lorsque le nombre de points augmente.
(JA) 分析用デバイス1の測定スポット17a,17b,17cの直前または直後の回転検出位置に到達したときに光源12からセンサ113に入射する出力光を遮る反射面,屈折面あるいは遮光面の何れかを有する位置検出マーク18を設け、測定スポット17a,17b,17cを読み取るセンサ113の出力信号をメモリ28に蓄積して、このメモリ28に蓄積した受光データから測定スポット17a,17b,17cの位置を判定して目的の分析信号だけを抽出することによって、測定スポットの数が増えても部品を追加することなく各測定スポットを読みとれる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)