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1. (WO2009093160) DÉTECTION DE COMPOSANTS VOULUS AU MOYEN DE PARTICULES INDICATRICES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/093160    N° de la demande internationale :    PCT/IB2009/050170
Date de publication : 30.07.2009 Date de dépôt international : 19.01.2009
CIB :
G01N 33/542 (2006.01), G01N 33/543 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N. V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
EVERS, Toon, H. [NL/NL]; (NL) (US Seulement)
Inventeurs : EVERS, Toon, H.; (NL)
Mandataire : VAN VELZEN, Maaike; High Tech Campus 44, NL-5656 AE Eindhoven, (NL)
Données relatives à la priorité :
08100716.3 22.01.2008 EP
Titre (EN) DETECTION OF TARGET COMPONENTS WITH THE HELP OF INDICATOR PARTICLES
(FR) DÉTECTION DE COMPOSANTS VOULUS AU MOYEN DE PARTICULES INDICATRICES
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a system and a method for the detection of target components (102) in a sample with the help of indicator particles (101) distributed in said sample. The distance (d) between indicator particles (101) and a contact surface (112) is determined after the target components could bind to the contact surface and/or the indicator particles. Thus it is possible to detect how many target components (102) are bound without a need for a binding between indicator particles (101) and contact surface (112). Optionally the indicator particles (101) can be affected by a modulated force, e.g. via an electromagnet (141). The determination of the distance (d) between indicator particles (101) and contact surface (112) may for example be achieved by frustrated total internal reflection, measurement of magnetic fields, or FRET.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé pour détecter des composants voulus (102) dans un échantillon au moyen de particules indicatrices (101) réparties dans l'échantillon. La distance (d) entre les particules indicatrices (101) et une surface de contact (112) est déterminée après que les composants voulus se sont liés à la surface de contact et/ou aux particules indicatrices. L'invention permet de détecter combien de composants voulus (102) sont liés sans qu'une liaison soit nécessaire entre des particules indicatrices (101) et la surface de contact (112). Les particules indicatrices (101) peuvent éventuellement être soumises à une force modulée, p. ex. par l'intermédiaire d'un électro-aimant (141). La distance (d) entre les particules indicatrices (101) et la surface de contact (112) peut être déterminée par exemple par réflexion interne totale, par la mesure de champs magnétiques ou par FRET.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)