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1. (WO2009092911) PROCEDE ET CAPTEUR DE MESURE DE DEFORMATIONS COMPENSEES EN TEMPERATURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/092911    N° de la demande internationale :    PCT/FR2008/001557
Date de publication : 30.07.2009 Date de dépôt international : 05.11.2008
CIB :
G01L 1/22 (2006.01), G01L 3/10 (2006.01), G01L 5/00 (2006.01), G01L 5/16 (2006.01)
Déposants : SNR ROULEMENTS [FR/FR]; 1, rue des Usines F-74000 Annecy (FR) (Tous Sauf US).
DURET, Christophe [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
VANDAMME, Etienne [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : DURET, Christophe; (FR).
VANDAMME, Etienne; (FR)
Mandataire : STRATO-IP; SAYETTAT, Julien 14, rue Soleillet (BL 57) F-75020 Paris (FR)
Données relatives à la priorité :
0708081 16.11.2007 FR
Titre (EN) METHOD AND SENSOR FOR MEASURING TEMPERATURE-COMPENSATED STRAINS
(FR) PROCEDE ET CAPTEUR DE MESURE DE DEFORMATIONS COMPENSEES EN TEMPERATURE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method for measuring temperature-compensated longitudinal strains in a zone of a structural element, said method providing: the step of bonding the substrate (1) of a strain gauge onto said zone, on which substrate a pattern (2) of electrically resistive material and two pairs of terminals (3) in electrical contact with said pattern are formed, said pattern forming a continuous resistive medium along longitudinal and transverse directions respectively and said terminals being formed on either side of the pattern (2) along the longitudinal direction in the case of one pair and in the transverse direction in the case of the other pair respectively; the step of alternately measuring the electrical voltage (Vx, Vy) between the pairs of terminals (3); the step of establishing a relationship between said voltages as a function of the longitudinal and transverse strains, said relationship being independent of the temperature; the step of establishing the transverse strains that correspond to the electrical voltages measured along the transverse direction; and, starting from the relationship and the transverse strains, the step of calculating the temperature-compensated longitudinal strains as a function of the electrical voltage measurements along the longitudinal and transverse directions.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure des déformations longitudinales compensées en température d'une zone d'un élément structurel, ledit procédé prévoyant de reporter sur ladite zone le substrat (1) d'une jauge de contrainte sur lequel sont formés un motif (2) de matériau résistif électriquement et deux paires de bornes (3) en contact électrique avec ledit motif, ledit motif formant un milieu résistif continu selon des directions respectivement longitudinale et transversale et lesdites bornes étant formées de part et d'autre du motif (2) selon la direction respectivement longitudinale pour une paire et transversale pour l'autre paire; de mesurer de façon alternée la tension électrique (Vx, Vy) entre les paires de bornes (3); d'établir une relation entre lesdites tensions en fonction des déformations longitudinales et transversales, ladite relation étant indépendante de la température; d'établir les déformations transversales qui correspondent aux tensions électriques mesurées selon la direction transversale; à partir de la relation et des déformations transversales, de calculer les déformations longitudinales compensées en température en fonction des mesures de tension électrique selon les directions longitudinale et transversale.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)