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1. (WO2009092647) SYSTÈME PLAN ET EN DOUBLE HÉLICE D'ANALYSEUR DE MATÉRIAU EN VRAC PULVÉRISÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/092647    N° de la demande internationale :    PCT/EP2009/050322
Date de publication : 30.07.2009 Date de dépôt international : 13.01.2009
CIB :
G01N 21/35 (2006.01), G01N 21/85 (2006.01)
Déposants : MOUND, Michael [US/CH]; (CH) (US Seulement).
BLAHOUS, Leopold [AT/CH]; (CH) (US Seulement).
ABB Schweiz AG [CH/CH]; Brown Boveri Strasse 6, CH-5400 Baden (CH) (Tous Sauf US)
Inventeurs : MOUND, Michael; (CH).
BLAHOUS, Leopold; (CH)
Mandataire : ABB Patent Attorneys; ABB Schweiz AG, Intellectual Property (CH-LC/IP), Brown Boveri Strasse 6, CH-5400 Baden (CH)
Données relatives à la priorité :
12/018,517 23.01.2008 US
Titre (EN) PULVERIZED BULK MATERIAL PLANAR AND DOUBLE HELIX ANALYZER SYSTEM
(FR) SYSTÈME PLAN ET EN DOUBLE HÉLICE D'ANALYSEUR DE MATÉRIAU EN VRAC PULVÉRISÉ
Abrégé : front page image
(EN)A system for analyzing a bulk material including a tube (200) for transporting a stream of a bulk material (210), a plurality of illuminators (240) for directing radiation (245) through the stream and arranged about a circumference of the tube, a plurality of detectors (230) arranged substantially opposite the illuminators, and at least one spectrometer for receiving and analyzing data from the plurality of detectors.
(FR)L'invention concerne un système destiné à analyser un matériau en vrac et comprenant un tube (200) pour transporter un flux de matériau en vrac (210), une pluralité d'illuminateurs (240) destinés à diriger le rayonnement (245) à travers le courant et placés sur la circonférence du tube, une pluralité de détecteurs (230) placés sensiblement en face des illuminateurs, et au moins un spectromètre pour recevoir et analyser les données de la pluralité de détecteurs.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)